Random access memory là gì? Các nghiên cứu khoa học về RAM

RAM (Random Access Memory) là một loại bộ nhớ máy tính có tốc độ cao, cho phép truy cập dữ liệu theo địa chỉ một cách ngẫu nhiên. Nó giữ vai trò quan trọng trong hiệu suất hệ thống, là bộ nhớ tạm thời mất dữ liệu khi máy tắt. RAM có các loại chính: SDRAM, DRAM và SRAM.

Định nghĩa và vai trò của Random Access Memory (RAM)

Random Access Memory (RAM) là loại bộ nhớ truy cập ngẫu nhiên, cho phép đọc/ghi dữ liệu ở bất kỳ vị trí địa chỉ nào với tốc độ gần như đồng đều. Khác với bộ nhớ lưu trữ lâu dài (như ROM, SSD, HDD), dữ liệu trên RAM chỉ tồn tại trong khi nguồn điện được cấp; khi tắt máy, toàn bộ nội dung RAM sẽ mất đi. Đây là điểm mấu chốt giúp RAM trở thành vùng nhớ đệm chính cho CPU trong quá trình xử lý dữ liệu.

Trong kiến trúc máy tính và hệ thống nhúng, RAM đóng vai trò trung gian giữa bộ nhớ chính (ổ cứng hoặc bộ nhớ flash) và bộ nhớ đệm nhỏ hơn (cache). CPU sẽ tải trước đoạn mã và dữ liệu cần thiết từ bộ nhớ chính vào RAM để gia tăng tốc độ truy xuất. Việc tối ưu dung lượng và băng thông RAM quyết định khả năng xử lý đa nhiệm và hiệu quả tính toán.

  • Đơn vị đo dung lượng: byte (B), kilobyte (KB), megabyte (MB), gigabyte (GB), terabyte (TB).
  • Tốc độ truy cập: tính bằng nanô giây (ns) cho độ trễ, hoặc megatransfers/giây (MT/s) cho băng thông.
  • Chu kỳ đồng hồ (clock cycle) và tốc độ xung nhịp (MHz, GHz) ảnh hưởng trực tiếp đến throughput.

Lịch sử phát triển

Giai đoạn đầu của bộ nhớ ngẫu nhiên sử dụng core nhớ từ (magnetic-core memory), nơi mỗi bit lưu trữ được trong một vòng dây bao quanh lõi ferrite. Mặc dù có độ bền cao, magnetic-core tỏ ra cồng kềnh và tiêu thụ năng lượng lớn. Đến cuối thập niên 1960, semiconductor memory (bộ nhớ bán dẫn) bắt đầu thay thế nhờ khả năng thu nhỏ kích thước và giảm điện năng tiêu thụ.

Sự ra đời của Static RAM (SRAM) và Dynamic RAM (DRAM) đánh dấu bước ngoặt quan trọng. SRAM, với cấu trúc latch, không cần làm mới (refresh) nhưng chiếm diện tích bán dẫn lớn và có giá thành cao. DRAM, với cấu trúc transistor – tụ điện, yêu cầu chu kỳ làm mới định kỳ nhưng tiết kiệm diện tích và chi phí sản xuất.

Sự tiêu chuẩn hóa các thế hệ RAM được thực hiện bởi JEDEC Solid State Technology Association. Các hãng sản xuất như Samsung, Micron, SK Hynix đã hợp tác phát triển và công bố tiêu chuẩn DDR (Double Data Rate) nhằm đồng nhất giao thức, điện áp và cơ chế tín hiệu. Từ DDR1 đến DDR5, mỗi thế hệ đều cải tiến băng thông, giảm điện áp và tăng mật độ tích hợp.

Cấu trúc và nguyên lý hoạt động

DRAM sử dụng mỗi ô nhớ bao gồm một transistor và một tụ điện để lưu một bit dữ liệu. Tụ điện nạp/hút điện tích tương ứng với giá trị 1 hoặc 0. Khi đọc dữ liệu, tụ phải phóng điện qua transistor xuống mạch cảm biến, sau đó ô nhớ đó được nạp lại (refresh) để tránh mất dữ liệu do hiện tượng rò rỉ điện.

SRAM cấu thành từ một mạch latch gồm 4–6 transistor, giữ giá trị logic ổn định miễn là có nguồn. Khi cần đọc, tín hiệu điều khiển (word line) kích hoạt latch, dữ liệu xuất ra cổng (bit line). Việc không cần refresh giúp SRAM có độ trễ thấp hơn DRAM, nhưng chi phí và diện tích bán dẫn cao hơn đáng kể.

Quy trình đọc/ghi dữ liệu gồm ba bước cơ bản:

  1. Chọn ô nhớ thông qua địa chỉ hàng (row address) và cột (column address).
  2. Kết nối ô nhớ vào đường tín hiệu bit line để đọc giá trị hiện tại hoặc ghi tín hiệu mới.

Phân loại các loại RAM

Static RAM (SRAM) có ưu điểm là độ trễ (latency) cực thấp, không cần refresh, phù hợp làm cache L1/L2/L3 trong CPU. Nhược điểm của SRAM là mức tiêu thụ điện năng ở chế độ chờ tương đối cao và chi phí sản xuất lớn, dẫn đến dung lượng thường nhỏ hơn DRAM.

Dynamic RAM (DRAM) yêu cầu chu kỳ refresh định kỳ, song mật độ bit trên diện tích lớn và chi phí thấp hơn. DRAM được dùng nhiều làm bộ nhớ chính cho máy tính cá nhân, máy chủ. Tiếp tục phát triển DRAM gồm các biến thể như:

  • eDRAM: tích hợp thêm mạch làm mới, cải thiện băng thông.
  • MRAM (Magnetoresistive RAM): sử dụng hiệu ứng từ, không cần refresh, khả năng lưu trữ phi biến động.
  • PRAM (Phase-change RAM): dựa trên sự thay đổi trạng thái pha của vật liệu, hứa hẹn tốc độ và độ bền cao.
Tiêu chí SRAM DRAM
Kiến trúc Latch 4–6 transistor Transistor + tụ điện
Refresh Không cần Phải refresh định kỳ
Độ trễ Rất thấp (~1–10 ns) Cao hơn (~10–100 ns)
Chi phí Cao Thấp
Ứng dụng Cache CPU, buffer tốc độ cao Bộ nhớ chính cho máy tính, di động

Chuẩn giao tiếp và các thế hệ DDR

Các chuẩn DDR (Double Data Rate) sử dụng kỹ thuật truyền dữ liệu hai lần mỗi chu kỳ xung nhịp, tăng gấp đôi băng thông so với SDR (Single Data Rate). JEDEC Solid State Technology Association quy định tiêu chuẩn DDR từ DDR1 đến DDR5, với mỗi thế hệ giảm điện áp hoạt động và tăng mật độ tích hợp.

DDR1 khởi đầu ở 200–400 MT/s, điện áp 2.5 V; DDR2 nâng lên 400–800 MT/s, hạ xuống 1.8 V; DDR3 tiếp cận 800–2133 MT/s, điện áp 1.5 V; DDR4 đạt 1600–3200 MT/s, điện áp 1.2 V; DDR5 hiện tại lên tới 4800–8400 MT/s, điện áp 1.1 V hoặc thấp hơn. LPDDR (Low Power DDR) cho di động tiếp tục tối ưu điện năng và quản lý nhiệt.

  • JEDEC JESD79-5C – tiêu chuẩn DDR5 SDRAM (băng thông, điện áp, tín hiệu) (jedec.org).
  • LPDDR5 – tối ưu điện năng, hỗ trợ chế độ Deep Sleep với Istandby<1μAI_{\text{standby}}<1\,\mu\text{A} (Intel Developer Zone).
  • LPDDR4 vs LPDDR5 – LPDDR5 cải thiện băng thông lên 6400 MT/s và giảm 20% điện năng so với LPDDR4x.

Chỉ số hiệu năng

Độ trễ truy xuất (latency) và băng thông (bandwidth) là hai chỉ số quan trọng đánh giá hiệu năng RAM. Độ trễ được đo qua các thông số CAS (Column Access Strobe), RAS (Row Access Strobe), tRCD, tRP, thường biểu diễn dưới dạng chu kỳ xung (cycles) hoặc nanô giây (ns).

Băng thông tính theo công thức:

B=bus width (bits)×clock rate (Hz)×28B = \frac{\text{bus width (bits)} \times \text{clock rate (Hz)} \times 2}{8}

Ví dụ DDR4-3200 (3200 MT/s) với bus 64 bit: B=64×3.2×109×28=51.2GB/sB = \frac{64 \times 3.2\times10^9 \times 2}{8} = 51.2\,\text{GB/s}. Hiệu năng thực tế còn phụ thuộc vào kiến trúc bo mạch chủ và bộ điều khiển bộ nhớ.

  • CAS Latency (CL): số chu kỳ từ lệnh đọc đến dữ liệu sẵn sàng.
  • tRCD: chu kỳ giữa chọn hàng và chọn cột.
  • tRP: chu kỳ đóng hàng trước khi mở hàng mới.

Ứng dụng thực tiễn

Trong máy tính cá nhân và máy chủ, RAM quyết định khả năng đa tác vụ, khởi động ứng dụng nhanh và xử lý dữ liệu lớn. Hệ thống chơi game và đồ họa 3D yêu cầu RAM dung lượng cao (>16 GB) và băng thông lớn để giảm hiện tượng giật, lag.

Thiết bị di động sử dụng LPDDR để tối ưu thời gian hoạt động và giảm nhiệt. Các smartphone cao cấp hiện trang bị LPDDR5X với băng thông lên tới 8533 MT/s, cải thiện tốc độ tải ứng dụng và xử lý AI trên thiết bị (Qualcomm OnQ).

  • Máy chủ dữ liệu: sử dụng DDR4 hoặc DDR5 ECC (Error-Correcting Code) để đảm bảo độ tin cậy.
  • Hệ thống nhúng và IoT: dùng SDRAM hoặc LPDDR tùy vào yêu cầu tiêu thụ năng lượng.
  • Thiết bị FPGA và ASIC: tích hợp SRAM on-chip làm buffer tốc độ cao.

Vấn đề tiêu thụ năng lượng và tản nhiệt

SRAM tiêu thụ điện năng cao hơn DRAM trong chế độ chờ do cần duy trì trạng thái latch với dòng Istatic. DRAM mặc dù cần refresh định kỳ, nhưng tổng năng lượng tiêu thụ thường thấp hơn nhờ điện áp hoạt động thấp và mật độ cao.

Giải pháp tản nhiệt bao gồm tản nhiệt chủ động (quạt, heatsink) và thụ động (pi-kê tản nhiệt). Trên máy chủ và bo mạch đồ họa, các thanh RAM hiệu năng cao thường kèm với “heat spreader” nhôm để tăng diện tích tản nhiệt (Samsung DRAM Solutions).

Tiêu chí SRAM DRAM
Điện áp 1.2–1.5 V 1.1–2.5 V tùy thế hệ
Dòng standby ~10–50 μA/bit <1 μA/bit với LPDDR
Tản nhiệt Cần heatsink chuyên dụng Heat spreader hoặc PCB thiết kế thông gió

Thách thức và xu hướng tương lai

Khi kích thước bóng bán dẫn tiến tới giới hạn vật lý (<10 nm), kỹ thuật EUV (Extreme Ultraviolet Lithography) và kiến trúc 3D-stacked memory trở nên cần thiết. HBM (High Bandwidth Memory) xếp chồng nhiều lớp DRAM trên cùng die với kết nối thông qua TSV (Through-Silicon Via), cho băng thông vượt trội (>256 GB/s mỗi stack).

Các công nghệ phi biến động như MRAM và ReRAM hứa hẹn kết hợp ưu điểm của DRAM và lưu trữ lâu dài, loại bỏ nhu cầu refresh và giảm năng lượng standby. Giao thức mở rộng như CXL (Compute Express Link) tạo bộ đệm chung giữa CPU, GPU và bộ nhớ, tối ưu việc chia sẻ dữ liệu với độ trễ thấp.

  • HBM3: mục tiêu 819 GB/s mỗi stack, dùng trong AI accelerator.
  • CXL 3.0: hỗ trợ >1 TB/s tổng băng thông giữa các thiết bị.
  • Storage-class Memory: kết hợp băng thông cao và tính phi biến động.

Tài liệu tham khảo

Các bài báo, nghiên cứu, công bố khoa học về chủ đề random access memory:

Bộ Nhớ Truy Cập Ngẫu Nhiên Kết Kháng (RRAM): Tổng Quan Về Vật Liệu, Cơ Chế Chuyển Đổi, Hiệu Suất, Lưu Trữ Đa Cấp (MLC), Mô Hình Và Ứng Dụng Dịch bởi AI
Nanoscale Research Letters - Tập 15 Số 1 - 2020
Tóm tắtBài viết này điểm qua những tiến bộ gần đây trong lĩnh vực công nghệ bộ nhớ truy cập ngẫu nhiên kết kháng (RRAM), được coi là một trong những công nghệ bộ nhớ nổi bật nhất đang nổi lên nhờ vào tốc độ cao, chi phí thấp, mật độ lưu trữ cao, những ứng dụng tiềm năng trong nhiều lĩnh vực và khả năng mở rộng tuyệt vời. Đầu tiên, bài viết cung cấp cái nhìn tổng qu...... hiện toàn bộ
Spin-transfer torque switching in magnetic tunnel junctions and spin-transfer torque random access memory
Journal of Physics Condensed Matter - Tập 19 Số 16 - Trang 165209 - 2007
Deposition of extremely thin (Ba,Sr)TiO3 thin films for ultra-large-scale integrated dynamic random access memory application
Applied Physics Letters - Tập 67 Số 19 - Trang 2819-2821 - 1995
(Ba,Sr)TiO3 (BST) thin films with thicknesses ranging from 15 to 50 nm are prepared by a rf magnetron sputtering on Pt/SiO2/Si substrates. The dielectric constants of BST thin films increase with increasing deposition temperature and thicknesses. The leakage current increases with increasing deposition temperature and this prevents the deposition temperature of the 20 nm thick BST thin fil...... hiện toàn bộ
An overview of materials issues in resistive random access memory
Journal of Materiomics - Tập 1 Số 4 - Trang 285-295 - 2015
A Collective Study on Modeling and Simulation of Resistive Random Access Memory
Nanoscale Research Letters - Tập 13 Số 1 - 2018
An overview of resistive random access memory devices
Science China Press., Co. Ltd. - Tập 56 Số 28-29 - Trang 3072-3078 - 2011
Recent advances in the understanding of high-kdielectric materials deposited by atomic layer deposition for dynamic random-access memory capacitor applications
Journal of Materials Research - - 2020
Abstract
Mechanism for an enhanced resistive switching effect of bilayer NiO /TiO2 for resistive random access memory
Journal of Alloys and Compounds - Tập 722 - Trang 753-759 - 2017
Mô hình vật lý của hiệu ứng nhiệt Joule động cho quá trình đặt lại trong bộ nhớ truy cập ngẫu nhiên cầu dẫn Dịch bởi AI
Springer Science and Business Media LLC - Tập 13 - Trang 432-438 - 2014
Hiệu ứng nhiệt Joule động của quá trình đặt lại trong bộ nhớ truy cập ngẫu nhiên cầu dẫn (CBRAM) đã được nghiên cứu lý thuyết. Bằng cách giới thiệu hiệu ứng hình học của sợi dẫn (CF), phân bố nhiệt độ và điện trường trong trạng thái tạm thời trong cả trường hợp một chiều và ba chiều được thảo luận chi tiết. Chúng tôi phát hiện rằng hình học của CF đóng vai trò quan trọng trong quá trình gia nhiệt ...... hiện toàn bộ
#hiệu ứng nhiệt Joule #bộ nhớ truy cập ngẫu nhiên cầu dẫn #quá trình đặt lại #hình học sợi dẫn #phân bố điện trường
Tổng số: 308   
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5
  • 6
  • 10