Công bố khoa học
Công cụ trích dẫn
Công bố khoa học
Trích dẫn
Tạp chí khoa học
Cơ quan đơn vị
Quản lý tài khoản
Danh mục đã lưu
Đăng xuất
Microelectronics Reliability
Công bố khoa học tiêu biểu
* Dữ liệu chỉ mang tính chất tham khảo
Sắp xếp:
Reliability analysis of a system with a human operator and subject to two failure modes
Microelectronics Reliability
-
Tập 31
- Trang 277-283
- 1991
Ashok Kumar
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
Packaging influences on the reliability of MEMS resonators
Microelectronics Reliability
-
Tập 48
- Trang 1567-1571
- 2008
J.J.M. Zaal
,
W.D. van Driel
,
S. Bendida
,
Q. Li
,
J.T.M. van Beek
,
G.Q. Zhang
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
Correlating gate sinking and electrical performance of pseudomorphic high electron mobility transistors
Microelectronics Reliability
-
Tập 47 Số 8
- Trang 1202-1207
- 2007
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
Reliability assessment of small signal GaAs FETs
Microelectronics Reliability
-
Tập 19
- Trang 107-115
- 1979
François Behmann
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
Front-end of line and middle-of-line time-dependent dielectric breakdown reliability simulator for logic circuits
Microelectronics Reliability
-
Tập 76
- Trang 81-86
- 2017
Kexin Yang
,
Taizhi Liu
,
Rui Zhang
,
Dae-Hyun Kim
,
Linda Milor
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
Study of dc conduction mechanisms in dysprosium–manganese oxide insulator thin films grown on Si substrates
Microelectronics Reliability
-
Tập 46
- Trang 1303-1308
- 2006
A.A. Dakhel
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
Reliability and performance of a true enhancement mode HIGFET for wireless applications
Microelectronics Reliability
-
Tập 47
- Trang 1180-1187
- 2007
Craig Gaw
,
Thomas Arnold
,
Elizabeth Glass
,
Robert Martin
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
System-level reliability assessment for a direct-drive PMSG based wind turbine with multiple converters
Microelectronics Reliability
-
Tập 114
- Trang 113801
- 2020
Shuaichen Ye
,
Dao Zhou
,
Frede Blaabjerg
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
X-ray and UV controlled adjustment of MOS VLSI circuits threshold voltages
Microelectronics Reliability
-
Tập 41
- Trang 185-191
- 2001
M.N Levin
,
V.R Gitlin
,
S.G Kadmensky
,
S.S Ostrouhov
,
V.S Pershenkov
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
Electrochemical wet etching in KOH:H20 solution and secondary/ion image passive voltage contrast as a complementary technique in failure analysis
Microelectronics Reliability
-
Tập 40
- Trang 1455-1459
- 2000
Oh Chong Khiam
,
Bi Jian Hua
,
Shailesh Redkar
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
Tổng số: 5,767
1
2
3
4
5
6
10