thumbnail

Microelectronics Journal

SCIE-ISI

  0026-2692

 

 

 

Cơ quản chủ quản:  ELSEVIER SCI LTD

Lĩnh vực:
Electrical & ElectronicNanoscience & Nanotechnology

Các bài báo tiêu biểu

Thermal modeling and measurements of AlGaN/GaN HEMTs including thermal boundary resistance
Tập 43 - Trang 611-617 - 2012
R. Sommet, G. Mouginot, R. Quere, Z. Ouarch, M. Camiade
Design for manufacturability and yield
Tập 21 - Trang 53-66 - 1990
Andrzej J. Strojwas
Impact of technology scaling and process variations on RF CMOS devices
Tập 37 - Trang 275-282 - 2006
Hassan Hassan, Mohab Anis, Mohamed Elmasry
Fabrication and characterization of electrostatically driven silicon microbeams
Tập 29 - Trang 641-644 - 1998
P. Attia, M. Boutry, A. Bosseboeuf, P. Hesto
Sheet resistance and layout effects in accelerated tests for dielectric reliability evaluation
Tập 27 - Trang 675-685 - 1996
F. Pio
Study on coalescent properties of ZnO nanoclusters using molecular dynamics simulation and experiment
Tập 37 - Trang 722-727 - 2006
Te-Hua Fang, Win-Jin Chang, Jun-Wei Chiu
Triple transistor based fault tolerance for resource constrained applications
Tập 68 - Trang 1-6 - 2017
Atin Mukherjee, Anindya Sundar Dhar
Ultra low power and high gain switched CMOS gm-boosted current reused mixer for wireless multi-standard applications
Tập 45 - Trang 1575-1582 - 2014
Sid-Ahmed Tedjini-Bailiche, Mohamed Trabelsi, Abdelhalim Slimane, Mohand-Tahar Belaroussi, Fayrouz Haddad, Sylvain Bourdel
A two-dimensional semi-analytical analysis of the subthreshold-swing behavior including free carriers and interfacial traps effects for nanoscale double-gate MOSFETs
Tập 42 - Trang 1391-1395 - 2011
F. Djeffal, T. Bendib, M.A. Abdi
Optimized thermal sensor allocation for field-programmable gate array temperature measurements based on self-heating test
Tập 60 - Trang 55-59 - 2017
Jingwei Li, Xiang Zheng, Yamin Zhang, Chao Wang, Xin He
Chỉ mục cơ sở dữ liệu
ISI/SCIE - Science Citation Index Expanded
Các tạp chí khác