Microelectronics Journal
SCIE-ISI
0026-2692
Cơ quản chủ quản: ELSEVIER SCI LTD
Lĩnh vực:
Electrical & ElectronicNanoscience & Nanotechnology
Các bài báo tiêu biểu
Thermal modeling and measurements of AlGaN/GaN HEMTs including thermal boundary resistance
Tập 43 - Trang 611-617 - 2012
Impact of technology scaling and process variations on RF CMOS devices
Tập 37 - Trang 275-282 - 2006
Sheet resistance and layout effects in accelerated tests for dielectric reliability evaluation
Tập 27 - Trang 675-685 - 1996
Study on coalescent properties of ZnO nanoclusters using molecular dynamics simulation and experiment
Tập 37 - Trang 722-727 - 2006
Triple transistor based fault tolerance for resource constrained applications
Tập 68 - Trang 1-6 - 2017
Ultra low power and high gain switched CMOS g m - boosted
Tập 45 - Trang 1575-1582 - 2014
Optimized thermal sensor allocation for field-programmable gate array temperature measurements based on self-heating test
Tập 60 - Trang 55-59 - 2017
Modeling strategies of the input admittance of RC interconnects for VLSI CAD tools
Tập 42 - Trang 63-73 - 2011
Physical modelling of the enhanced diffusion of boron due to ion implantation in thin-base npn bipolar transistors
Tập 26 - Trang 255-259 - 1995