Microelectronics Reliability
SCIE-ISI SCOPUS (1962-2025)
0026-2714
Cơ quản chủ quản: PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD , Elsevier Ltd.
Lĩnh vực:
Safety, Risk, Reliability and QualityAtomic and Molecular Physics, and OpticsSurfaces, Coatings and FilmsElectrical and Electronic EngineeringNanoscience and NanotechnologyCondensed Matter PhysicsElectronic, Optical and Magnetic Materials
Các bài báo tiêu biểu
Solder joint fatigue models: review and applicability to chip scale packages
Tập 40 Số 2 - Trang 231-244 - 2000
480
Prognostics for state of health estimation of lithium-ion batteries based on combination Gaussian process functional regression
Tập 53 Số 6 - Trang 832-839 - 2013
405
An improved autoregressive model by particle swarm optimization for prognostics of lithium-ion batteries
Tập 53 Số 6 - Trang 821-831 - 2013
214
Border traps: Issues for MOS radiation response and long-term reliability
Tập 35 Số 3 - Trang 403-428 - 1995
172
Prognostics implementation of electronics under vibration loading
Tập 47 - Trang 1849-1856 - 2007
148
Remaining useful life prediction of lithium batteries in calendar ageing for automotive applications
Tập 52 Số 9-10 - Trang 2438-2442 - 2012
138
Heat dissipation design and analysis of high power LED array using the finite element method
Tập 52 Số 5 - Trang 905-911 - 2012
135
Total ionizing dose effects in shallow trench isolation oxides
Tập 48 Số 7 - Trang 1000-1007 - 2008
114
Stiffness-tolerant methods for transient analysis of stiff Markov chains
Tập 34 Số 11 - Trang 1825-1841 - 1994
107