Journal of Microscopy

Công bố khoa học tiêu biểu

* Dữ liệu chỉ mang tính chất tham khảo

Sắp xếp:  
3D imaging of cement‐based materials at submicron resolution by combining laser scanning confocal microscopy with serial sectioning
Journal of Microscopy - Tập 258 Số 2 - Trang 151-169 - 2015
Marcus Yio, M.J. Mac, H.S. Wong, N.R. Buenfeld
The use of low temperature X‐ray diffraction to evaluate freezing methods used in freeze‐fracture electron microscopy
Journal of Microscopy - Tập 112 Số 1 - Trang 103-113 - 1978
T. Gulik‐Krzywicki, M. Joseph Costello
Cryo-SEM method for the observation of entrapped bubbles and degree of water filling in large wet powder compacts
Journal of Microscopy - Tập 242 Số 2 - Trang 189-196 - 2011
Johanne Mouzon, Iftekhar Uddin Bhuiyan, S.P.E. Forsmo, Jonas Hedlund
A physical phantom for the calibration of three‐dimensional X‐ray microtomography examination
Journal of Microscopy - Tập 222 Số 2 - Trang 124-134 - 2006
Egon Perilli, Fabio Baruffaldi, Maria Cristina Bisi, Luca Cristofolini, Angelo Cappello
Polylysine as an adhesive for the attachment of nanoplankton to substrates for electron microscopy
Journal of Microscopy - Tập 131 Số 1 - Trang 127-129 - 1983
Harvey J. Marchant, D. Paul Thomas
Two‐photon image correlation spectroscopy and image cross‐correlation spectroscopy
Journal of Microscopy - Tập 200 Số 1 - Trang 14-25 - 2000
Paul W. Wiseman, Jeffrey A. Squier, Mark H. Ellisman, Kent R. Wilson
Optical patterning in azobenzene polymer films
Journal of Microscopy - Tập 219 Số 3 - Trang 109-114 - 2005
Burkhard Stiller, Thomas Geue, Knut Morawetz, Marina Saphiannikova
An investigation into microstructure and particle distribution of Ni–P/diamond composite thin films
Journal of Microscopy - Tập 185 Số 2 - Trang 283-291 - 1997
Benedetto Bozzini, G. Giovannelli, Pietro Luigi Cavallotti
Application of back‐scattered electron imaging to the study of the lichen‐rock interface
Journal of Microscopy - Tập 175 Số 1 - Trang 54-59 - 1994
Jacek Wierzchoś, Carmen Ascaso
A new preparation method to study fresh plant structures with X‐ray computed tomography
Journal of Microscopy - Tập 233 Số 1 - Trang 1-4 - 2009
Olivier Leroux, Manfred Schlosser, E. Bellefroid, Myriam Claeys, Marjolein Couvreur, Gaëtan Borgonie, Luc Van Hoorebeke, Bert Masschaele, Ronald Viane
Tổng số: 89   
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5
  • 6
  • 9