Công bố khoa học
Công cụ trích dẫn
Công bố khoa học
Trích dẫn
Tạp chí khoa học
Cơ quan đơn vị
Quản lý tài khoản
Danh mục đã lưu
Đăng xuất
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Công bố khoa học tiêu biểu
* Dữ liệu chỉ mang tính chất tham khảo
Sắp xếp:
Evaluation of the Heat Transfer Coefficient in Microcircuits From the Frequency Analysis of the Thermal Transient Response
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
-
Tập 33 Số 2
- Trang 260-266
- 2010
T. Świątczak
,
Bjorn Vermeersch
,
Gilbert De Mey
,
B. Więcek
,
Jedrzej Banaszczyk
,
M. Felczak
9
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
Design for manufacturability of SISE parallel plate forced convection heat sinks
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
-
Tập 24 Số 2
- Trang 150-158
- 2001
Madhusudan Iyengar
,
Avram Bar‐Cohen
55
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
Optimal Design Methodology of Plate-Fin Heat Sinks for Electronic Cooling Using Entropy Generation Strategy
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
-
Tập 27 Số 3
- Trang 551-559
- 2004
Chih‐Chin Shih
,
Genhao Liu
101
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
Thermal compact modeling of parallel plate heat sinks
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
-
Tập 26 Số 1
- Trang 136-146
- 2003
Sridhar Narasimhan
,
Avram Bar‐Cohen
,
Rajesh V. Nair
18
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
Development of no-flow underfill materials for lead-free solder bumped flip-chip applications
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
-
Tập 24 Số 1
- Trang 59-66
- 2001
Z.Q. Zhang
,
S.H. Shi
,
Ching‐Ping Wong
16
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
Chemical kinetic model of interfacial degradation of adhesive joints
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
-
Tập 22 Số 2
- Trang 215-220
- 1999
D.C.C. Lam
,
Fan Yang
,
Pin Tong
45
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
Thermal Characteristics and Thermomechanical Reliability of Board-Level Stacked-Die Packages Subjected to Coupled Power and Thermal Cycling Test
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
-
Tập 31 Số 2
- Trang 495-502
- 2008
Tong‐Hong Wang
,
Chang-Chi Lee
,
Yi‐Shao Lai
,
Yu-Cheng Lin
3
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
Optimization of Thermomechanical Reliability of Board-level Package-on-Package Stacking Assembly
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
-
Tập 29 Số 4
- Trang 864-868
- 2006
Yi‐Shao Lai
,
Tong‐Hong Wang
,
Ching-Chun Wang
32
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
A life consumption monitoring methodology for electronic systems
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
-
Tập 26 Số 3
- Trang 625-634
- 2003
Arun Ramakrishnan
,
Michael Pecht
167
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
Prognostics and health management of electronics
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
-
Tập 29 Số 1
- Trang 222-229
- 2006
Michael Pecht
394
Đi đến bài báo
Trích dẫn
Lưu lại
Tổng số: 16
1
2