IEEE Transactions on Electron Devices· Tập 49 Số 10 ·Trang 1814-1820·2002
#Silicon on insulator technology #MOSFETs #Semiconductor device modeling #Charge carrier density #Monte Carlo methods
Danh mục bài báo
IEEE Transactions on Electron Devices
Công bố khoa học tiêu biểu của tạp chí. * Dữ liệu chỉ mang tính chất tham khảo
Hot-carrier-induced degradation in short p-channel nonhydrogenated polysilicon thin-film transistors
IEEE Transactions on Electron Devices· Tập 49 Số 9 ·Trang 1552-1557·2002
#Silicon #Thin film transistors #Interface phenomena #Hot carriers #Stability #Semiconductor device noise #Charge carrier lifetime #Semiconductor device reliability
IEEE Transactions on Electron Devices· Tập 49 Số 9 ·Trang 1540-1544·2002
#Light-emitting diodes #Charge carrier lifetime #Electroluminescence
IEEE Transactions on Electron Devices· Tập 49 Số 9 ·Trang 1665-1668·2002
#Silicon #Vacuum microelectronics #Arrays #Electron emission #JFETs #Stability
IEEE Transactions on Electron Devices· Tập 49 Số 9 ·Trang 1657-1664·2002
#Silicon compounds #Schottky diodes #p-i-n diodes #Solid state rectifiers #Power semiconductor diodes #Current density #Charge carrier lifetime
IEEE Transactions on Electron Devices· Tập 63 Số 6 ·Trang 2398-2404·2016
4
IEEE Transactions on Electron Devices· Tập 49 Số 10 ·Trang 1833-1835·2002
#MOSFETs #Inversion layers
IEEE Transactions on Electron Devices· Tập 49 Số 10 ·Trang 1821-1825·2002
#Thyristors #Silicon on insulator technology #SPICE #Semiconductor device modeling #Isolation technology
IEEE Transactions on Electron Devices· Tập 49 Số 10 ·Trang 1694-1700·2002
#Indium compounds #Aluminum compounds #Gallium compounds #MODFETs #Millimeter wave FETs #Leakage currents
IEEE Transactions on Electron Devices· Tập 49 Số 9 ·Trang 1558-1565·2002
#CMOS integrated circuits #Integrated circuit design #Mixed analog-digital integrated circuits #Very-large-scale integration #Integrated circuit fabrication
Tổng số: 247
- 1
- 2
- 3
- 4
- 5
- 6
- 10