Surface and Interface Analysis
SCIE-ISI SCOPUS (1979-2025)
0142-2421
1096-9918
Anh Quốc
Cơ quản chủ quản: WILEY , John Wiley and Sons Ltd
Lĩnh vực:
Chemistry (miscellaneous)Condensed Matter PhysicsSurfaces and InterfacesMaterials ChemistrySurfaces, Coatings and Films
Các bài báo tiêu biểu
Quantitative electron spectroscopy of surfaces: A standard data base for electron inelastic mean free paths in solids
Tập 1 Số 1 - Trang 2-11 - 1979
Investigation of multiplet splitting of Fe 2p XPS spectra and bonding in iron compounds
Tập 36 Số 12 - Trang 1564-1574 - 2004
Calculations of electron inelastic mean free paths. V. Data for 14 organic compounds over the 50–2000 eV range
Tập 21 Số 3 - Trang 165-176 - 1994
Empirical atomic sensitivity factors for quantitative analysis by electron spectroscopy for chemical analysis
Tập 3 Số 5 - Trang 211-225 - 1981
X‐ray photoelectron spectroscopic chemical state quantification of mixed nickel metal, oxide and hydroxide systems
Tập 41 Số 4 - Trang 324-332 - 2009
Calculations of electorn inelastic mean free paths. II. Data for 27 elements over the 50–2000 eV range
Tập 17 Số 13 - Trang 911-926 - 1991
Ce 3d XPS investigation of cerium oxides and mixed cerium oxide (CexTiyOz)
Tập 40 Số 3-4 - Trang 264-267 - 2008
Calculations of electron inelastic mean free paths for 31 materials
Tập 11 Số 11 - Trang 577-589 - 1988
Resolving ruthenium: XPS studies of common ruthenium materials
Tập 47 Số 11 - Trang 1072-1079 - 2015