Springer Science and Business Media LLC

Công bố khoa học tiêu biểu

* Dữ liệu chỉ mang tính chất tham khảo

Sắp xếp:  
Supercritical Fluid Applications in Advanced Materials Processing
Springer Science and Business Media LLC - Tập 121 Số 1 - Trang 711-716 - 1988
Wagner, Richard A., Krukonis, Val J., Coffey, Michael P.
Electrical and Optical Properties of Yb, Er doped GaAs
Springer Science and Business Media LLC - Tập 301 - Trang 163-168 - 2020
T. Benyattou, D. Seghier, G. Brémond, S. Moneger, A. Kalboussi, G. Marrakchi, G. Guillot, C. Lhomer, B. Lambert, Y. Toudic, A. Le Corre
Electric Field Direct Force in Electromigration Mechanism
Springer Science and Business Media LLC - Tập 516 - 1998
А. А. Карпушин, A. V. Sorokin, M. R. Baklanov, Karen Maex
Deep Level Characterization and Passivation in Heteroepitaxial InP
Springer Science and Business Media LLC - Tập 325 - Trang 125-130 - 1993
B. Chatterjee, S. A. Ringel, R. Sieg, I. Weinberg, R. Hoffman
Ảnh hưởng của việc bị bịt kín Gallium Arsenide đến phát quang do Kính hiển vi quét lượng tử kích thích Dịch bởi AI
Springer Science and Business Media LLC - Tập 380 - Trang 119-124 - 2011
E. E. Reuter, S. Q. Gu, P. W. Bohn, J. F. Dorsten, G. C. Abeln, J. W. Lyding, S. G. Bishop
#Gallium Arsenide #quét tunneling #kích thích phát quang #photoluminescence #bề mặt bị bịt kín
Raman Scattering Spectra in Be-Implanted GaN Epilayers
Springer Science and Business Media LLC - Tập 719 - Trang 8281-8284 - 2011
L. S. Wang, W. H. Sun, S. J. Chua
Characterization of Chemical Bonding in Low-K Dielectric Materials for Interconnect Isolation: A XAS and EELS Study
Springer Science and Business Media LLC - - 2006
Patrick Hoffmann, Dieter Schmeißer, Hans-Juergen Engelmann, Ehrenfried Zschech, Heiko Stegmann, F. J. Himpsel, Jonathan D. Denlinger
MOCVD Precursor Delivery Monitored and Controlled Using UV Spectroscopy
Springer Science and Business Media LLC - Tập 474 - Trang 69-75 - 1997
Brian J. Rappoli, William J. DeSisto, Tobin J. Marks, John A. Belot
X-Ray Scattering Studies of Thin Films and Multilayers
Springer Science and Business Media LLC - Tập 151 - Trang 231-242 - 2012
G. S. Cargill
Combined Tem and X-Ray Topographic Characterization of InxGa1-xAs/GaAs Strained Layer Systems.
Springer Science and Business Media LLC - Tập 209 - Trang 655-660 - 1990
Michael Dudley, Gong-Da Yao, David Paine, David Howard, Robert N. Sacks
Tổng số: 47,314   
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5
  • 6
  • 10