Influence of a Low-Temperature GaAs Dislocation Filter on the Perfection of GaAs/Si LayersOptoelectronics, Instrumentation and Data Processing - Tập 54 - Trang 181-186 - 2018
D. S. Abramkin, M. O. Petrushkov, E. A. Emel’yanov, M. A. Putyato, B. R. Semyagin, A. V. Vasev, M. Yu. Esin, I. D. Loshkarev, A. K. Gutakovskii, V. V. Preobrazhenskii, T. S. Shamirzaev