Microscopy and Microanalysis

SCIE-ISI SCOPUS (1995-2025)

  1431-9276

  1435-8115

  Anh Quốc

 

Cơ quản chủ quản:  OXFORD UNIV PRESS , Cambridge University Press

Lĩnh vực:
Instrumentation

Phân tích ảnh hưởng

Các bài báo tiêu biểu

Đánh giá phân tích biến dạng bằng kỹ thuật khuếch tán ngược điện tử Dịch bởi AI
Tập 17 Số 3 - Trang 316-329 - 2011
Stuart I. Wright, Matthew M. Nowell, David P. Field
#khuếch tán ngược điện tử #phân tích biến dạng #cấu trúc vi mô #khoa học vật liệu #địa chất
Phân tích Dữ liệu Proximity Histogram từ Cảm biến Atô Ba Chiều Dịch bởi AI
Tập 6 Số 05 - Trang 437-444 - 2000
Olof C. Hellman, JA Vandenbroucke, J. Rüsing, Dieter Isheim, D. N. Seidman
Detection of Single Atoms and Buried Defects in Three Dimensions by Aberration-Corrected Electron Microscope with 0.5-Å Information Limit
Tập 14 Số 5 - Trang 469-477 - 2008
C. Kisielowski, Bert Freitag, Maarten Bischoff, Hai-Long Lin, Sorin Lazar, G.M.H. Knippels, Peter Tiemeijer, Michiel van der Stam, S. von Harrach, M Stekelenburg, M. Haider, Stephan Uhlemann, Heiko Müller, Peter Hartel, B. Kabius, Dean J. Miller, I. Petrov, E. A. Olson, T. Donchev, E. A. Kenik, Andrew R. Lupini, J. Bentley, S. J. Pennycook, Ian Anderson, A. M. Minor, Andreas K. Schmid, Thomas Duden, Velimir Radmilović, Quentin M. Ramasse, Masashi Watanabe, Rolf Erni, Eric A. Stach, P. Denes, U. Dahmen
Phân Tích Ba Chiều Dữ Liệu Tomography X-Ray Có Độ Phân Giải Cao Với Morpho+ Dịch bởi AI
Tập 17 Số 2 - Trang 252-263 - 2011
Loes Brabant, Jelle Vlassenbroeck, Yoni De Witte, Veerle Cnudde, Matthieu Boone, Jan Dewanckele, Luc Van Hoorebeke
Tutorial Review: X-ray Mapping in Electron-Beam Instruments
Tập 12 Số 01 - Trang 2-25 - 2006
John J. Friel, Charles E. Lyman
Cứng hóa thép không gỉ duplex đã lão hóa bởi sự phân hủy spinodal Dịch bởi AI
Tập 10 Số 3 - Trang 349-354 - 2004
F. Danoix, Peter Auger, D. Blavette
Các cuộc điều tra EELS về các pha oxit niobi khác nhau Dịch bởi AI
Tập 12 Số 5 - Trang 416-423 - 2006
D. R. Bach, Heike Störmer, Reinhard Schneider, Dagmar Gerthsen, Johan Verbeeck