Đánh giá phân tích biến dạng bằng kỹ thuật khuếch tán ngược điện tử Dịch bởi AI Tập 17 Số 3 - Trang 316-329 - 2011
Stuart I. Wright, Matthew M. Nowell, David P. Field
Tóm tắtKể từ khi kỹ thuật khuếch tán ngược điện tử (EBSD) được tự động hóa, các hệ thống EBSD đã trở nên phổ biến trong các cơ sở hiển vi thuộc các phòng thí nghiệm nghiên cứu khoa học vật liệu và địa chất trên toàn thế giới. Sự chấp nhận của kỹ thuật này chủ yếu là nhờ khả năng của EBSD trong việc hỗ trợ các nhà nghiên cứu hiểu biết về các khía cạnh tinh thể học c...... hiện toàn bộ #khuếch tán ngược điện tử #phân tích biến dạng #cấu trúc vi mô #khoa học vật liệu #địa chất
Phân tích Dữ liệu Proximity Histogram từ Cảm biến Atô Ba Chiều Dịch bởi AI Tập 6 Số 05 - Trang 437-444 - 2000
Olof C. Hellman, JA Vandenbroucke, J. Rüsing, Dieter Isheim, D. N. Seidman
Tóm tắt
Kỹ thuật cảm biến atô ba chiều (3D) tạo ra một tái cấu trúc về bản chất hóa học nguyên tố và vị trí ba chiều của các nguyên tử bị bay hơi từ một mẫu kim loại nhọn, với bán kính cong cục bộ nhỏ hơn 50 nm. Số lượng nguyên tử thu được có thể lên đến khoảng một triệu, đại diện cho một thể tích phân tích khoảng 20 nm × 20 nm × 200 nm (80.000 ...... hiện toàn bộ Detection of Single Atoms and Buried Defects in Three Dimensions by Aberration-Corrected Electron Microscope with 0.5-Å Information Limit Tập 14 Số 5 - Trang 469-477 - 2008
C. Kisielowski, Bert Freitag, Maarten Bischoff, Hai-Long Lin, Sorin Lazar, G.M.H. Knippels, Peter Tiemeijer, Michiel van der Stam, S. von Harrach, M Stekelenburg, M. Haider, Stephan Uhlemann, Heiko Müller, Peter Hartel, B. Kabius, Dean J. Miller, I. Petrov, E. A. Olson, T. Donchev, E. A. Kenik, Andrew R. Lupini, J. Bentley, S. J. Pennycook, Ian Anderson, A. M. Minor, Andreas K. Schmid, Thomas Duden, Velimir Radmilović, Quentin M. Ramasse, Masashi Watanabe, Rolf Erni, Eric A. Stach, P. Denes, U. Dahmen
AbstractThe ability of electron microscopes to analyze all the atoms in individual nanostructures is limited by lens aberrations. However, recent advances in aberration-correcting electron optics have led to greatly enhanced instrument performance and new techniques of electron microscopy. The development of an ultrastable electron microscope with aberration-correc...... hiện toàn bộ Phân Tích Ba Chiều Dữ Liệu Tomography X-Ray Có Độ Phân Giải Cao Với Morpho+ Dịch bởi AI Tập 17 Số 2 - Trang 252-263 - 2011
Loes Brabant, Jelle Vlassenbroeck, Yoni De Witte, Veerle Cnudde, Matthieu Boone, Jan Dewanckele, Luc Van Hoorebeke
Tóm tắtPhân tích ba chiều (3D) là một công cụ thiết yếu để thu được các kết quả định lượng từ các bộ dữ liệu 3D. Đã có những tiến bộ đáng kể trong các kỹ thuật hình ảnh 3D, dẫn đến nhu cầu ngày càng tăng về các gói phân tích linh hoạt hơn, đầy đủ hơn với các thuật toán tiên tiến. Tại Trung tâm Tomography X-ray của Đại học Ghent (UGCT), nghiên cứu đang được tiến hàn...... hiện toàn bộ Cứng hóa thép không gỉ duplex đã lão hóa bởi sự phân hủy spinodal Dịch bởi AI Tập 10 Số 3 - Trang 349-354 - 2004
F. Danoix, Peter Auger, D. Blavette
Các tính chất cơ học, chẳng hạn như độ cứng và độ dẻo va đập, của thép không gỉ chứa ferrite bị ảnh hưởng lớn bởi quá trình lão hóa kéo dài ở nhiệt độ trung bình. Được biết rằng sự phân hủy spinodal α-α′ diễn ra trong ferrite dựa trên sắt–crom là nguyên nhân chịu trách nhiệm cho độ nhạy cảm lão hóa này. Quá trình phân hủy này có thể được xác định một cách rõ ràng bằng phân tích đầu mũi ngu...... hiện toàn bộ Các cuộc điều tra EELS về các pha oxit niobi khác nhau Dịch bởi AI Tập 12 Số 5 - Trang 416-423 - 2006
D. R. Bach, Heike Störmer, Reinhard Schneider, Dagmar Gerthsen, Johan Verbeeck
Quang phổ mất năng lượng electron cùng với cấu trúc gần đầu mút tinh tế của niobi monoxide (NbO) và niobi pentoxide (Nb2O5) hoàn toàn có thành phần hóa học đã được ghi nhận. Cấu trúc của các vật liệu tham chiếu oxit niobi đã được kiểm tra bằng phương pháp nhiễu xạ electron trong vùng chọn để đảm bảo sự phân loại chính xác các cấu trúc tinh tế. NbO ...... hiện toàn bộ