Overall equipment effectiveness of a manufacturing line (OEEML)

Emerald - Tập 20 Số 1 - Trang 8-29 - 2008
Marcello Braglia1, Marco Frosolini1, Francesco Zammori1
1Dipartimento di Ingegneria Meccanica, Nucleare e della Produzione, Facoltà di Ingegneria, Università di Pisa, Pisa, Italy

Tài liệu tham khảo

10.1108/01443579910249714

Bonal, J.et al.(1996), “Overall fab efficiency”,Proceedings of Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop, IEEE/SEMI, pp. 49‐52.

Brandt, J.R. and Taninecz, G. (2005), “Capacity utilization”,Glass in It Style, Vol. 1 No. 1, pp. 10‐18, available at: www.gimav.it/pubblicazioni.

10.1109/TSM.2004.836657

Gouvea da Costa, S.E. and Pinheiro da Lima, E. (2002), “Uses and misuses of the overall equipment effectiveness for production management”,Proceedings of IEMC 2002 IEEE International, Vol. 2, pp. 816‐20.

10.1108/EUM0000000006223

10.1108/17410380610688278

Robinson, C. (2004), “Calculating line or process OEE”,Maintenance Technology, available at: www.mt‐online.com/newarticles2/06‐94mm.cfm.

Thông tin
Thông tin xuất bản

Emerald

Tập 20 Số 1

8-29

Thông tin tác giả