thumbnail

Thin Solid Films

  0040-6090

 

 

Cơ quản chủ quản:  Elsevier , ELSEVIER SCIENCE SA

Lĩnh vực:
Surfaces and InterfacesMetals and AlloysSurfaces, Coatings and FilmsMaterials ChemistryElectronic, Optical and Magnetic Materials

Phân tích ảnh hưởng

Thông tin về tạp chí

 

Các bài báo tiêu biểu

Silicon nanocrystals as light converter for solar cells
Tập 451 - Trang 384-388 - 2004
V. Švrček, A. Slaoui, J.-C. Muller
Impact of pulse duration in high power impulse magnetron sputtering on the low-temperature growth of wurtzite phase (Ti,Al)N films with high hardness
Tập 581 - Trang 39-47 - 2015
Tetsuhide Shimizu, Yoshikazu Teranishi, Kazuo Morikawa, Hidetoshi Komiya, Tomotaro Watanabe, Hiroshi Nagasaka, Ming Yang
Effects of dilution ratio and seed layer on the crystallinity of microcrystalline silicon thin films deposited by hot-wire chemical vapor deposition
Tập 430 - Trang 135-140 - 2003
H.R. Moutinho, C.-S. Jiang, J. Perkins, Y. Xu, B.P. Nelson, K.M. Jones, M.J. Romero, M.M. Al-Jassim
Variable-angle spectroscopic ellipsometry for deep UV characterization of dielectric coatings
Tập 261 - Trang 37-43 - 1995
A. Zuber, N. Kaiser, J.L. Stehlé
Aqueous lateral epitaxy overgrowth of ZnO on (0001) GaN at 90°C
Tập 518 - Trang 6030-6035 - 2010
Scott P. Fillery, David R. Clarke, Frederick F. Lange
The effect of hydration layers on the anodic growth and on the dielectric properties of Al2O3 for electrolytic capacitors
Tập 550 - Trang 128-134 - 2014
G. Scaduto, M. Santamaria, P. Bocchetta, F. Di Quarto
New modification of X-ray standing waves above the surface of layered substrates under total external reflection conditions for structural characterization of organic layers
Tập 232 Số 2 - Trang 252-255 - 1993
S. I. Zheludeva, M. V. Kovalchuk, Н. Н. Новикова, A.N. Sosphenov, N. E. Malysheva, Н. Н. Салащенко, A. D. Akhsakhalyan, Yuriy Y. Platonov
X-ray standing waves in bragg diffraction and in total reflection regions using langmuir-blodgett multilayers
Tập 193-194 - Trang 395-400 - 1990
S. I. Zheludeva, S. Lagomarsino, Н. Н. Новикова, M. V. Kovalchuk, F. Scarinci
Electrical instabilities of Al-anodic oxide-n-GaAs MOS structures and the effect of annealing
Tập 56 - Trang 153-161 - 1979
B.M. Arora
Chỉ số ảnh hưởng
Các tạp chí khác
Tạp chí Khoa học Tự nhiên Đại học Quốc gia Thành phố Hồ Chí Minh
Tạp chí Khoa học Kiểm sát
Tạp chí Khoa học Kiến trúc và Xây dựng
Tạp chí Nghiên cứu Khoa học và phát triển Trường Đại học Thành Đô
Tạp chí Khoa học - Công nghệ trong lĩnh vực An toàn thông tin
Tạp chí Phát triển Khoa học và Công nghệ Đại học Quốc gia Thành phố Hồ Chí Minh
Khoa học ĐHQGHN: Khoa học Tự nhiên và Công nghệ
Tạp chí Khoa học Thăng Long
Tạp chí Khoa học Trường Đại học Quốc tế Hồng Bàng
Tạp chí Nghiên cứu Chính sách và Quản lý