thumbnail

IOP Publishing

  0022-3735

 

 

Cơ quản chủ quản:  N/A

Lĩnh vực:

Các bài báo tiêu biểu

Determination of the thickness and optical constants of amorphous silicon
Tập 16 Số 12 - Trang 1214-1222 - 1983
R. Swanepoel
A simple method for the determination of the optical constants n, k and the thickness of a weakly absorbing thin film
Tập 9 Số 11 - Trang 1002-1004 - 1976
J.-C. Manifacier, J. Gasiot, J.P. Fillard
Evaluation of hyperfine parameter distributions from overlapped Mossbauer spectra of amorphous alloys
Tập 12 Số 11 - Trang 1083-1090 - 1979
G. Le Caër, Jean‐Marie Dubois
Some theoretical aspects of error separation techniques in surface metrology
Tập 9 Số 7 - Trang 531-536 - 1976
David J. Whitehouse
Electronic transducers for industrial measurement of low value capacitances
Tập 21 Số 3 - Trang 242-250 - 1988
Sunxiang Huang, A.L. Stott, R G Green, M.S. Beck
Etched silicon vibrating sensor
Tập 17 Số 8 - Trang 650-652 - 1984
J. C. Greenwood
The measurement of component ratios in multiphase systems using alpha -ray attenuation
Tập 13 Số 3 - Trang 341-345 - 1980
M. Sami A. Abouelwafa, E.J.M. Kendall
Use of a channelled image intensifier in the field-ion microscope
Tập 2 Số 8 - Trang 731-733 - 1969
Patricia Turner, P. F. S. Cartwright, M.J. Southon, A. van Oostrom, B.W. Manley
Automatic low temperature calorimetry for the range 0.3-320K
Tập 14 Số 2 - Trang 223-228 - 1981
E. Gmelin, P Rodhammer
Mapping a small area of a surface
Tập 9 Số 10 - Trang 855-867 - 1976
R.S. Sayles, T. R. Thomas