IOP Publishing
0022-3735
Cơ quản chủ quản: N/A
Lĩnh vực:
Các bài báo tiêu biểu
Determination of the thickness and optical constants of amorphous silicon
Tập 16 Số 12 - Trang 1214-1222 - 1983
A simple method for the determination of the optical constants n, k and the thickness of a weakly absorbing thin film
Tập 9 Số 11 - Trang 1002-1004 - 1976
Evaluation of hyperfine parameter distributions from overlapped Mossbauer spectra of amorphous alloys
Tập 12 Số 11 - Trang 1083-1090 - 1979
NMR microscopy of dynamic displacements: k-space and q-space imaging
Tập 21 Số 8 - Trang 820-822 - 1988
Some theoretical aspects of error separation techniques in surface metrology
Tập 9 Số 7 - Trang 531-536 - 1976
Electronic transducers for industrial measurement of low value capacitances
Tập 21 Số 3 - Trang 242-250 - 1988
Aspects of physicochemical methods for the detection of latent fingerprints
Tập 11 Số 8 - Trang 713-721 - 1978
The measurement of component ratios in multiphase systems using alpha -ray attenuation
Tập 13 Số 3 - Trang 341-345 - 1980