Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Tính chất bề mặt của Indium, Sn, Bismuth và hợp kim nhị phân In–Bi và Sn–Bi
Tóm tắt
Kết quả được trình bày từ việc phân tích các cách khác nhau để thu được bề mặt nguyên tử tinh khiết của In, Sn, Bi và các hợp kim nhị phân In–Bi và Sn–Bi trong trạng thái lỏng. Độ nhạy cao của quang phổ tổn thất năng lượng điện tử đặc trưng đối với tạp chất hoạt động bề mặt được ghi nhận. Ví dụ về một dung dịch In–Bi (6,16 at % Bi) cho thấy tác động của oxy đối với sự phân tách các thành phần vào các lớp bề mặt. Kết quả được trình bày từ việc đo đồng thời độ căng bề mặt và nồng độ bề mặt cho các hệ nhị phân In–Bi và Sn–Bi ở 573 K. Dữ liệu được thu được in situ với việc giám sát chặt chẽ trạng thái bề mặt qua quang phổ điện tử Auger và quang phổ tổn thất năng lượng điện tử đặc trưng. Kết quả cho thấy các bề mặt của các dung dịch bị làm giàu với bismuth trong toàn bộ khoảng nồng độ thể tích.
Từ khóa
#Indium #Tin #Bismuth #Hợp kim nhị phân #Tính chất bề mặt #Quang phổ điện tử AugerTài liệu tham khảo
O. G. Ashkhotov, Poverkhnost: Fiz., Khim., Mekh., No. 2, 5 (1996).
P. W. Palmberg, Anal. Chem. 45A, 549 (1973).
O. G. Ashkhotov and I. B. Ashkhotova, Russ. J. Phys. Chem. A 93, 2137 (2019).
O. G. Ashkhotov, Doctoral (Phys. Math.) Dissertation (Kab.-Balk. State Univ., Nal’chik, 1997).
O. G. Ashkhotov and I. B. Ashkhotova, Instrum. Exp. Tech. 62, 859 (2019).
P. M. Hall, J. M. Morabito, and D. K. Conley, Surf. Sci. 62, 1 (1977).
V. A. Gorelik, Elektron. Prom-st’, Nos. 11–12, 47 (1978).
S. Berglund and G. A. Somorjai, Chem. Phys. 59, 5537 (1973).
V. T. Cherepin and M. A. Vasil’ev, Methods and Instruments for the Analysis of Metal Surfaces, The Handbook (Naukova Dumka, Kiev, 1982) [in Russian].
V. P. Chentsov, V. G. Shevchenko, A. G. Mozgovoi, et al., Perspekt. Mater., No. 3, 46 (2011).
B. B. Alchagirov, O. I. Kurshev, and T. M. Taova, Russ. J. Phys. Chem. A 81, 1281 (2007).
B. B. Alchagirov and A. G. Mozgovoi, High Temp. 41, 412 (2003).
A. Adamson, The Physical Chemistry of Surfaces (Wiley, New York, 1976).