Journal of the Electrochemical Society
Công bố khoa học tiêu biểu
Sắp xếp:
Bulk and Surface Conduction in CVD SiO2 and PSG Passivation Layers
Journal of the Electrochemical Society - Tập 123 Số 3 - Trang 386-391 - 1976
The Current Understanding of Charges in the Thermally Oxidized Silicon Structure
Journal of the Electrochemical Society - Tập 121 Số 6 - Trang 198C - 1974
D-C Dielectric Breakdown of Amorphous Silicon Dioxide Films at Room Temperature
Journal of the Electrochemical Society - Tập 115 Số 1 - Trang 88 - 1968
The Effects of Epoxy Encapsulant Composition on Semiconductor Device Stability
Journal of the Electrochemical Society - Tập 118 Số 1 - Trang 129 - 1971
Passivation Coatings on Silicon Devices
Journal of the Electrochemical Society - Tập 122 Số 8 - Trang 1092-1103 - 1975
A Negative-Ion Type Instability in MOS Devices
Journal of the Electrochemical Society - Tập 119 Số 2 - Trang 165 - 1972
The Effect of Mobile Sodium Ions on Field Enhancement Dielectric Breakdown in SiO[sub 2] Films on Silicon
Journal of the Electrochemical Society - Tập 120 Số 10 - Trang 1369 - 1973
Improve Rate Capability of the Sulfur Cathode Using a Gelatin Binder
Journal of the Electrochemical Society - Tập 158 Số 6 - Trang A775 - 2011
Electrochemical Impedance Spectroscopy Study of a Lithium/Sulfur Battery: Modeling and Analysis of Capacity Fading
Journal of the Electrochemical Society - Tập 160 Số 4 - Trang A553-A558 - 2013
Tổng số: 361
- 1
- 2
- 3
- 4
- 5
- 6
- 37