Journal of the Electrochemical Society

Công bố khoa học tiêu biểu

Sắp xếp:  
Bulk and Surface Conduction in CVD SiO2 and PSG Passivation Layers
Journal of the Electrochemical Society - Tập 123 Số 3 - Trang 386-391 - 1976
R. B. Comizzoli
The Current Understanding of Charges in the Thermally Oxidized Silicon Structure
Journal of the Electrochemical Society - Tập 121 Số 6 - Trang 198C - 1974
B. E. Deal
D-C Dielectric Breakdown of Amorphous Silicon Dioxide Films at Room Temperature
Journal of the Electrochemical Society - Tập 115 Số 1 - Trang 88 - 1968
F. L. Worthing
The Effects of Epoxy Encapsulant Composition on Semiconductor Device Stability
Journal of the Electrochemical Society - Tập 118 Số 1 - Trang 129 - 1971
R. C. Olberg
Passivation Coatings on Silicon Devices
Journal of the Electrochemical Society - Tập 122 Số 8 - Trang 1092-1103 - 1975
G.L. Schnable, Werner Kern, R. B. Comizzoli
A Negative-Ion Type Instability in MOS Devices
Journal of the Electrochemical Society - Tập 119 Số 2 - Trang 165 - 1972
E. S. Schlegel, G.L. Schnable
The Effect of Mobile Sodium Ions on Field Enhancement Dielectric Breakdown in SiO[sub 2] Films on Silicon
Journal of the Electrochemical Society - Tập 120 Số 10 - Trang 1369 - 1973
C. M. Osburn, S. I. Raider
Improve Rate Capability of the Sulfur Cathode Using a Gelatin Binder
Journal of the Electrochemical Society - Tập 158 Số 6 - Trang A775 - 2011
Qinqin Wang, Weikun Wang, Yaqin Huang, Feng Wang, Hao Zhang, Zhongbao Yu, Anbang Wang, Ke Yuan
Electrochemical Impedance Spectroscopy Study of a Lithium/Sulfur Battery: Modeling and Analysis of Capacity Fading
Journal of the Electrochemical Society - Tập 160 Số 4 - Trang A553-A558 - 2013
Zhaofeng Deng, Zhian Zhang, Yanqing Lai, Jin Liu, Jie Li, Yexiang Liu
Tổng số: 361   
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5
  • 6
  • 37