Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Kính hiển vi điện tử truyền dẫn của các phyllosilicate hạt mịn trong các lát đá siêu mỏng
Tóm tắt
Một phương pháp được mô tả để chuẩn bị các lát cắt trong suốt điện tử của các loại đá sét hạt mịn thích hợp cho việc tạo ra hình vi vọng truyền. Một loại trầm tích và một miếng đá phiến được sử dụng làm ví dụ. Các lát cắt vuông góc với lớp hoặc nứt tạo ra các mẫu tán xạ với các phản xạ 00l được xác định rõ ràng. Điều này cho phép xác định ngay lập tức các cấu trúc 7, 10 và 14 Å. Sự kết hợp giữa thông tin kết cấu chi tiết với việc xác định cấu trúc của từng hạt phyllosilicate cung cấp một phương pháp mạnh mẽ để nghiên cứu các thay đổi diagenetic muộn và biến chất sớm trong các trầm tích.
Từ khóa
#Kính hiển vi điện tử truyền dẫn #phyllosilicate #trầm tích #đá sét #cấu trúc 00l #biến chất #diagenesisTài liệu tham khảo
Agar, A. W. (1960) Accuracy of selected-area microdiffraction in the electron microscope: Br. J. Appl. Phys. 11, 185–189.
Barber, D. J. (1970) Thin foils of non-metals made for electron microscopy by sputteretching: J. Materials Sci. 5, 1–8.
Barber, D. J., Hutcheon, I. and Price, P. B. (1971) Extralunar dust in Apollo cores?: Science 171, 372–374.
Barber, D. J. and Price, P. B. (1972) Solar flare particle tracks in lunar and meteoritic minerals: Proc. 25th Anniversary Meeting of EMAG, Inst. Physics, Cambridge, England, in press.
Blacic, J. D. and Christie, J. M. (1972) The dislocation substructure of experimentally deformed olivine: In preparation.
Christie, J. M., Lally, J. S., Heuer, A. H., Fisher, R. M., Griggs, D. T. and Radcliffe, S. V. (1971) Comparative electron petrography of Apollo 11, Apollo 12, and terrestrial rocks: Proc. 2nd Lunar Sci. Conf. 1, 69–89.
Eckhardt, F. J. (1958) Elektronenoptische Untersuchungen an Einkristallen aus tonigen Sedimenten: Neues Jahrb. für Mineralogie, Monatshefte 1958, 1–17.
Fleet, S. G. and Ribbe, P. H. (1965) An electron-microscope study of peristerite plagioclases: Min. Maq. 35, 165–176.
Heuer, A. H., Firestone, R. F., Snow, J. D., Green, H. W., Howe, R. G. and Christie, J. M. (1971) An improved ion thinning apparatus: Rev. Sci. Instrum. 42, 1177–1184.
James, P. F. and McMillan, P. W. (1968) Direct observation of phase separation in glasses: Phil. Mag., 8th Series, 18, 863–867.
McConnell, J. D. C. (1967) Electron microscopy and electron diffraction: In Physical methods in determinative mineralogy (Edited by Zussman, J.), 335–370, Academic Press, London
McLaren, A. C. and Phakey, P. P. (1965) A transmission electron microscope study of amethyst and citrine: Austr. J. Phys. 18, 135–141.
McLaren, A. C., Retchford, J. A., Griggs, D. T. and Christie, J. M. (1967) Transmission electron microscope study of Brazil twins and dislocations experimentally produced in natural quartz: Physica Status Solidi 19, 631–644.
McLaren, A. C., Turner, R. G., Boland, J. N. and Hobbs, B. E. (1970) Dislocation structure of the deformation lamellae in synthetic quartz; a study by electron and optical microscopy: Contrib. Mineral. Petrol. 29, 104–115.
Nissen, H.-U. (1967) Direct electron-microscopic proof of domain texture in orthoclase (KAlSi3O8): Contrib. Mineral. Petrol. 16, 354–360.
Oertel, G., Curtis, C. D. and Phakey, P. P. (1972) A transmission electron microscope and X-ray diffraction study of muscovite and chlorite: In preparation.
Oertel, G. and Phakey, P. (1972) The texture of a slate from Nantlle, Caernarvon, North Wales: Texture 1, in press.
Paulus, M. and Reverchon, F. (1961) Dispositif de bombardement ionique pour préparations micrographiques: J. Phys. Radium 22, 103–107.
Radcliffe, S. V., Heuer, A. H., Fisher, R. M., Christie, J. M. and Griggs, D. T. (1970) High voltage (800 KV) electron petrography of type B rock from Apollo 11: Proc. Apollo 11 Lunar Science Conference 1, 731–748.
Tighe, N. J. (1970) Microstructure of fine-grain ceramics: In Ultrafine Grain Ceramics (Edited by Burke, J. J.): 109–133, Syracuse Univ. Press, Syracuse, New York.