Structural, morphology and electrical properties of layered copper selenide thin film
Tóm tắt
Tài liệu tham khảo
S. Y. Zhang et al., Cryst. Growth Des. 6, 2809 (2006)
S. T. Lakshmikumar, A. C. Rastogi, Sol. Energ. Mat. Sol. C. 32, 7 (1994)
W. S. Chen, J. M. Stewart, R. A. Mickelsen, Appl. Phys. Lett. 46, 1095 (1985)
C. Levy-Clement, M. Neumann-Spallart, S. K. Haram, K. S. V. Santhanam, Thin Solid Films 302, 12 (1997)
V. M. Bhuse, P. P. Hankare, K. M. Garadkar, A. S. Khomane, Mater. Chem. Phys. 80, 82 (2003)
S. R. Gosavi, N. G. Deshpande, Y. G. Gudage, R. Sharma, J. Alloy Compd. 448, 344 (2008)
D. Lippkow, H. H. Strehblow, Electrochim. Acta 43, 2131 (1998)
H. M. Pathan, C. D. Lokhande, D. P. Amalnerkar, T. Seth, Appl. Surf. Sci. 211, 48 (2003)
R. Cordova et al., J. Phys. Chem. B 109, 3212 (2005)
V. Saltas et al., Surf. Rev. Lett. 7, 235 (2000)
Al-Mamun, A. B. M. O. Islam, Int. J. Mod. Phys. B 18, 3063 (2004)
Al-Mamun, A. B. M. O. Islam, A. H. Bhuiyan, J. Mater. Sci.-Mater. El. 16, 263 (2005)
E. Andrade et al., Nucl. Instrum. Meth. B 161-163,635 (2000)
R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Ellipsometry and polarized light (North-Holland, Amsterdam, 1997)
H. G. Tompkins, A user’s guide to ellipsometry (Academic Press, Boston, 1993)
L. B. Valdes, Proceedings of the IRE 42, 420 (1954)
S. Agilan, D. Mangalaraj, S. K. Narayandass, G. Mohan Rao, Physica B 365, 93 (2005)
J. M. Pawlikowski, Thin Solid Films 127, 29 (1985)
E. E. Khawaja, J. Phys. D Appl. Phys. 9, 1939 (1976)
J. C. Manifacier, J. Gasiot, P. Fillard, J. Phys. E Sci. Instrum. 9, 1002 (1976)
R. S. Mane, B. R. Sankapal, C. D. Lokhande, Mater. Chem. Phys. 64, 215 (2000)
Z. J. Liu and Y. G. Shen, Appl. Phys. Lett. 84, 5121 (2004)
L. Y. Huang, L. Meng, Mat. Sci. Eng. B.-Solid 137, 310 (2007)
P. G. Ganesan, V. D. Das, Mater. Lett. 60, 2059 (2006)
J. Y. W. Seto, J. Appl. Phys. 46, 5247 (1975)
S. S. Lin, J. L. Huang, D. F. Lii, Surf. Coat. Tech. 190, 372 (2005)
S. Christoulakis et al., Appl. Surf. Sci. 252, 5351 (2006)
M. Lakshmi et al., Thin Solid Films 386, 127 (2001)