Độ Chính Xác Hướng Đông của Các Thông Số Đo Lường Phản Xạ Điện Tử Gần Các Ranh Giới Hạt

Microscopy and Microanalysis - Tập 20 Số 3 - Trang 852-863 - 2014
Stuart I. Wright1, Matthew M. Nowell1, René de Kloe2, Lisa Chan3
11EDAX,392 East 12300 South,Draper,UT 84020,USA.
22EDAX BV,Ringbaan Noord 103,5046 AA Tilburg,The Netherlands.
33TESCAN USA,508 Thomson Park Drive,Cranberry TWP,PA 16066,USA.

Tóm tắt

Tóm tắtPhương pháp phân tán electron ngược (EBSD) đã trở thành kỹ thuật phổ biến để đo các hướng tinh thể với độ phân giải không gian trong khoảng hàng chục nanomet và độ phân giải góc <0.1°. Trong một cuộc khảo sát gần đây về các bài báo EBSD sử dụng Google Scholar™, 60% trong số đó được tìm thấy có đề cập đến một số khía cạnh của sự biến dạng. Thông thường, sự biến dạng thể hiện qua các phép đo EBSD bằng sự sai lệch địa phương nhỏ. Sự tăng lên trong sai lệch địa phương thường được quan sát thấy gần các ranh giới hạt trong các vi cấu trúc đã biến dạng. Điều này có thể chỉ ra sự tích tụ dislocation tại các ranh giới, nhưng cũng có thể do sự mất độ chính xác hướng trong các phép đo EBSD. Khi chùm tia electron được đặt tại hoặc gần một ranh giới hạt, khối lượng tán xạ chứa các mạng tinh thể từ hai hạt được tách biệt bởi ranh giới. Do đó, mẫu kết quả sẽ chứa những đóng góp từ cả hai mạng. Những mẫu hỗn hợp như vậy có thể đặt ra một số thách thức cho việc phát hiện và phân loại băng mẫu EBSD. Thông qua việc phân tích dữ liệu sai lệch địa phương trong thí nghiệm và mô phỏng trộn mẫu, công trình này cho thấy một phần sự gia tăng trong sai lệch địa phương là một hiện tượng giả do các mẫu hỗn hợp tại ranh giới nhưng sự gia tăng do các hiện tượng vật lý cũng được quan sát thấy.

Từ khóa


Tài liệu tham khảo

10.1017/S1431927611000055

10.1017/S1431927606060090

10.1007/s11837-013-0678-0

10.1016/j.ultramic.2012.06.004

10.4028/www.scientific.net/MSF.495-497.1049

10.1080/01418610008212038

Rollett, 2012, Comparison of gradients in orientation and stress between experiment and simulation, Mater Sci Forum, 702–703, 463

10.1016/j.scriptamat.2009.03.062

10.1016/S1359-6462(02)00340-8

Clarke, 2008, Internal stresses and dislocation densities generated by phase transformations in steel

10.1016/j.ijsolstr.2012.09.016

10.1080/14786430903304145

10.1016/j.ultramic.2004.11.016

Krieger Lassen, 1992, Image-processing procedures for analysis of electron back scattering patterns, J Microsc, 6, 115

Britton T.B. (2010). A high resolution electron backscatter diffraction study of titanium and its alloys. PhD Thesis. Oxford, England: The University of Oxford.

10.1179/026708309X12506933873828

10.1016/S0304-3991(96)00104-0

10.1007/BF02675553

10.1016/j.actamat.2010.04.033

10.1016/j.scriptamat.2008.01.050

10.1016/j.ultramic.2004.11.012

10.1155/TSM.20.41

10.1016/j.ijplas.2008.04.009

Wright, 2012, Angular precision of automated electron backscatter diffraction measurements, Mater Sci Forum, 702–703, 548

10.1007/978-1-4757-3205-4_13

10.1016/j.ijplas.2008.09.002

Thông tin
Thông tin xuất bản

Microscopy and Microanalysis

Tập 20 Số 3

852-863

Thông tin tác giả