Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Về vai trò của các dòng điện bề mặt trong các mục tiêu dẫn điện trong việc hình thành bức xạ tán xạ và bức xạ chuyển tiếp của electron tương đối
Tóm tắt
Phương pháp dòng điện bề mặt và phương pháp pseudophoton được sử dụng rộng rãi trong nghiên cứu sự tương tác giữa electron tương đối và vật chất. Phân tích đơn giản cho thấy những mâu thuẫn giữa các phương pháp này liên quan đến việc kích thích các dòng điện trên bề mặt của mục tiêu dẫn điện. Để giải quyết sự mâu thuẫn này, các dòng điện bề mặt trên bề mặt hạ lưu và thượng lưu của mục tiêu dẫn điện được đo trong hình học của bức xạ tán xạ. Các dòng điện bề mặt đã được ghi nhận thực nghiệm trên bề mặt mục tiêu thượng lưu, từ đó bức xạ tán xạ ngược được tạo ra. Đồng thời, các dòng điện bề mặt không có trên bề mặt mục tiêu hạ lưu, mà theo quy ước được coi là nguồn phát bức xạ tán xạ theo hướng chuyển động của electron. Các kết quả tương tự đã được đạt được trong cùng một hình học trong một chùm photon thực. Nhìn chung, các kết quả này xác nhận tính áp dụng của phương pháp pseudophoton để phân tích các hiệu ứng của sự tương tác giữa trường của photon tương đối và các mục tiêu dẫn điện dày (dày hơn lớp da) và không áp dụng được của phương pháp dòng điện bề mặt cho bức xạ theo hướng chuyển động của electron.
Từ khóa
#dòng điện bề mặt #electron tương đối #bức xạ tán xạ #bức xạ chuyển tiếp #vật chất dẫn điệnTài liệu tham khảo
J. H. Brownell and J. Walsh, Phys. Rev. E 57, 1075 (1998).
S. Reiche and J. B. Rosenzweig, in Transition Radiation for Uneven, Limited Surfaces, Proceedings of the 2001 Particle Accelerator Conference (Chicago, 2001).
B. M. Bolotovskii, Tr. Fiz. Inst. AN SSSR 140, 95 (1982).
E. Fermi, Fizika 29, 315 (1924).
E. Wiliams, K. Danske Vidensk. Selsk. 13, 4 (1935).
M. L. Ter-Mikaelian, High Energy Electromagnetic Processes in Condensed Media (Wiley-Interscience, New York, 1972).
J. D. Jackson, Classical Electrodynamics, 3rd ed. (Wiley, New York, 1998).
B. N. Kalinin, G. A. Naumenko, A. P. Potylitsyn, G. A. Saruev, L. G. Sukhikh, and V. A. Cha, JETP Lett. 84, 110 (2006).
V. Sargsyan, Comparison of Stripline and Cavity Beam Position Monitors, TESLA Report 2004-03.
A. P. Kazantsev and G. I. Surdutovich, Dokl. Akad. Nauk SSSR 147, 74 (1962).
E. L. Feinberg, Sov. Phys. Usp. 23, 629 (1980).
N. F. Shul’ga, S. V. Trofimenko, and V. V. Syshchenko, JETP Lett. 93, 1 (2011).
G. Naumenko, X. Artru, A. Potylitsyn, Yu. Popov, L. Sukhikh, and M. Shevelev, J. Phys.: Conf. Ser. 236, 012004 (2010).
H. D. Thomsen, J. Esberg, K. K. Andersen, M. D. Lund, H. Knudsen, U. I. Uggerhoj, P. Sona, A. Mangiarotti, T. J. Ketel, A. Dizdar, S. Ballestrero, and S. H. Connell, Phys. Rev. D 81, 052003 (2010).
G. A. Naumenko, Y. A. Popov, and M. V. Shevelev, J. Phys.: Conf. Ser. 357, 1 (2012).
G. A. Naumenko, L. G. Sukhikh, Yu. A. Popov, and M. V. Shevelev, Nuovo Cimento C 35, 285 (2011).