Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Quan sát sự điều chỉnh lực ma sát do điện hóa kiểm soát trong phạm vi nano-Newton
Tóm tắt
Các tính chất hóa học cục bộ của các đỉnh tiếp xúc trong một hệ thống ma sát thực sự có tầm quan trọng quyết định đối với hành vi ma sát vĩ mô thu được. Do đó, các lực bên tác động lên đầu của một kính hiển vi quét lực và ma sát độc lập đã được nghiên cứu như một hàm của hóa học bề mặt được kiểm soát, thực hiện bằng cách điều khiển điện thế của mẫu. Các kết quả thu được cho thấy sự phụ thuộc rõ ràng của hành vi ma sát ở quy mô nano vào những thay đổi trong trạng thái điện hóa của hệ thống.
Từ khóa
#ma sát nano #điện hóa #kiểm soát bề mặt #kính hiển vi quét lực #lực ma sátTài liệu tham khảo
G. Binnig, C.F. Quate and Ch. Gerber, Phys. Rev. Lett. 56 (1986) 930;
D. Sarid, Scanning Force Microscopy (Oxford University Press, Oxford, 1991).
C.M. Mate, G.M. McClelland, R. Erlandsson and S. Chiang, Phys. Rev. Lett. 59 (1987) 1942.
C.M. Mate, Phys. Rev. Lett. 68 (1992) 3323; O. Marti, J. Colchero and J. Mlynek, Nanotechnology 1 (1992) 141; R. Overney and E. Meyer, MRS Bulletin 18 (1993) 26; G.J. Germann, S.R. Cohen, G. Neubauer, G.M. McClelland and H. Seki, J. Appl. Phys. 73 (1993) 163; M. Binggeli and C.M. Mate, Appl. Phys. Lett. 65 (1994) 415.
M. Binggeli, R. Christoph, H.-E. Hintermann, J. Colchero and O. Marti, Nanotechnology 4 (1993) 59.
M. Hipp, H. Bielefeldt, J. Colchero, O. Marti and J. Mlynek, Ultramicroscopy 42–44 (1992).
P. Lustenberger, H. Rohrer, R. Christoph and H. Siegenthaler, J. Electroanal. Chem. 243 (1988) 225; M. Binggeli, D. Carnal, R. Nyffenegger, H. Siegenthaler, R. Christoph and H. Rohrer, J. Vac. Sci. Technol. B 4 (1991) 1985.
M. Binggeli, R. Christoph, H.-E. Hintermann and O. Marti, Surf. Coatings Technol. 62 (1993) 523.
E. Weilandt, A. Menck and O. Marti, Surf. Interf. Anal. 33 (1995), in press.
N.P. Brandon and R.J.K. Wood, Wear (1993) 33.
M.F. Toney and B.M. Ocko, Synchrotron Radiation News 6 (1993) 28.