Bong khí nanomet trên bề mặt rắn được chụp ảnh bằng kính hiển vi lực nguyên tử

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement, and Phenomena - Tập 18 Số 5 - Trang 2573-2575 - 2000
Shitao Lou1, Zhenqian Ouyang1, Yi Zhang1, Xiaojun Li2, Jun Hu3,4, Minqian Li5,6, Fujia Yang7,4
1Shanghai Institute of Nuclear Research, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800, China
2Department of Chemistry, East China Normal University, Shanghai 200062, China
3Morgan-Tan International Center for Life Sciences, Shanghai Jiaotong University, Shanghai 200030, China
4Shanghai Institute of Nuclear Research, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800 and
5Morgan-Tan International Center for Life Sciences, Shanghai Jiaotong University, Shanghai 200030 and Institute of Modern Physics, Fudan University, Shanghai 200433, China
6Shanghai Institute of Nuclear Research, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800,
7Institute of Modern Physics, Fudan University, Shanghai 200433, China

Tóm tắt

Bong khí có kích thước nanomet đã được tạo ra trên bề mặt rắn phẳng ở mức nguyên tử và được chụp ảnh bằng kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) ở chế độ gõ trong nước. Trong các hình ảnh AFM, bong khí xuất hiện như những hình cầu sáng. Một số bong khí giữ sự ổn định trong nhiều giờ trong quá trình thí nghiệm. Các bong khí bị nhiễu loạn dưới tải trọng cao trong quá trình chụp ảnh AFM. Một cơ chế liên quan được thảo luận.

Từ khóa


Tài liệu tham khảo

1982, Phys. Rev. Lett., 49, 57, 10.1103/PhysRevLett.49.57

1986, Phys. Rev. Lett., 56, 930, 10.1103/PhysRevLett.56.930

1998, Anal Chem., 70, 425

1996, J. Vac. Sci. Technol. B, 14, 1341, 10.1116/1.589093

1995, Appl. Phys. Lett., 67, 476, 10.1063/1.114541

1995, Science, 268, 267, 10.1126/science.268.5208.267

1995, Surf. Sci., 344, 221, 10.1016/0039-6028(95)00858-6

1998, Phys. Rev. Lett., 81, 5876, 10.1103/PhysRevLett.81.5876

1994, J. Colloid Interface Sci., 164, 252, 10.1006/jcis.1994.1164

1998, Science, 279, 1704, 10.1126/science.279.5357.1704

1998, Phys. Rev. Lett., 80, 5357, 10.1103/PhysRevLett.80.5357

1996, Langmuir, 12, 1693, 10.1021/la950866w

1985, Rev. Mod. Phys., 57, 827, 10.1103/RevModPhys.57.827

1992, Rep. Prog. Phys., 55, 431, 10.1088/0034-4885/55/4/001

1996, Am. Lab. (Shelton, Conn.), 28, 30

1996, J. Vac. Sci. Technol. B, 14, 1313, 10.1116/1.589087

1995, Phys. Rev. B, 52, 8692, 10.1103/PhysRevB.52.R8692

1997, Ultramicroscopy, 69, 117, 10.1016/S0304-3991(97)00037-5

1995, J. Vac. Sci. Technol. B, 13, 1115, 10.1116/1.587913

Thông tin
Thông tin xuất bản

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement, and Phenomena

Tập 18 Số 5

2573-2575

Thông tin tác giả