Elektronenmikroskopische Dunkelfeld-Abbildung als Mittel zur Identifizierung kleiner Kristalle

Zeitschrift für Physik - Tập 136 - Trang 547-555 - 1953
Otto Rang1, Fritz Schleich1
1Abteilung für Elektronenoptik, Carl Zeiss, Mosbach in Baden

Tóm tắt

Bei der elektronenmikroskopischen Untersuchung von Kristallgemischen besteht häufig der Wunsch, außer der Form auch die Kristallstruktur jedes einzelnen Kriställchens und damit nach Möglichkeit die chemische Zusammensetzung zu bestimmen. Es wird gezeigt, wie man diese Aufgabe mit Hilfe der Dunkelfeldmikroskopie lösen kann.

Tài liệu tham khảo

Boersch, H.: Z. Physik116, 469 (1940). König, H.: Naturwiss.35, 261 (1948). Boersch, H.: Ann. Phys. (5)27, 75 1936. Ardenne, M.v.: Z. Physik117, 515 (1941). Brüche, E., u. W.Zapp: Deutsches Patent Nr. 891 583, vom 20. 8. 43. Boersch, H.: Ann. Phys. (5)26, 631 (1936). Rang, O., u.H. Schluge: Optik9, 463 (1952). König, H.: Z. Physik130 983 (1951). Bernard, R., u.E. Pernoux: Optik10, 64 (1953). Pernoux, E.: Thèses: Phenomènes de diffraction et d'interférences électroniques produits par des cristaux minces. Lyon: BOSC Frères 1953.