Đầu thăm carbon cho kính hiển vi quét và các thí nghiệm điện tử phân tử

Nanoscale Research Letters - Tập 7 - Trang 1-4 - 2012
Gabino Rubio-Bollinger1, Andres Castellanos-Gomez1,2, Stefan Bilan3, Linda A Zotti3, Carlos R Arroyo1,2, Nicolás Agraït1,4, Juan Carlos Cuevas3
1Departamento de Física de la Materia Condensada (C–III), Universidad Autónoma de Madrid, Campus de Cantoblanco, Madrid, Spain
2Kavli Institute of Nanoscience, 5046 Delft University of Technology, Delft, Netherlands
3Departamento de Física Teórica de la Materia Condensada (C–III), Universidad Autónoma de Madrid, Campus de Cantoblanco, Madrid, Spain
4Instituto Madrileño de Estudios Avanzados en Nanociencia (IMDEA-Nanociencia), Madrid, Spain

Tóm tắt

Chúng tôi thực hiện chế tạo và đặc trưng hóa các đầu thăm bằng sợi carbon cho việc sử dụng trong các thiết bị quét hầm và kính hiển vi lực dựa trên các cảm biến lực bằng thạch anh piezoelectric. Quy trình chế tạo điện hóa được sử dụng để khắc các đầu thăm nhằm mang lại các đỉnh có kích thước dưới 100 nm một cách tái tạo. Chúng tôi cũng nghiên cứu vận chuyển electron qua các khớp phân tử đơn do một phân tử octanethiol duy nhất tạo thành, được liên kết bởi nhóm gốc thiol với điện cực vàng và liên kết với đầu thăm carbon qua nhóm methyl. Chúng tôi quan sát sự hiện diện của các bệ dẫn điện trong quá trình kéo dài cầu phân tử, điều này là dấu hiệu của sự hình thành một khớp phân tử.

Từ khóa

#carbon-fiber tips #scanning tunneling microscopy #force microscopy #piezoelectric sensors #molecular junctions

Tài liệu tham khảo

Reed MA, Zhou C, Muller CJ, Burgin TP, Tour JM: Conductance of a molecular junction. Science 1997, 278: 252–254. 10.1126/science.278.5336.252 Chen FLX, Hihath JHZ, Tao N: Effect of anchoring groups on single-molecule conductance: comparative study of thiol-, amine-, and carboxylic-acid-terminated molecules. J Am Chem Soc 2006, 128: 15874–15881. 10.1021/ja065864k Castellanos-Gomez A, Bilan S, Zotti LA, Arroyo CR, Agraït N, Cuevas JC, Rubio-Bollinger G: Carbon tips as electrodes for single-molecule junctions. Appl Phys Lett 2011, 99: 123105. 10.1063/1.3643031 Castellanos-Gomez A, Agrait N, Rubio-Bollinger G: Carbon fibre tips for scanning probe microscopy based on quartz tuning fork force sensors. Nanotechnology 2010, 21: 145702. 10.1088/0957-4484/21/14/145702 Sripirom J, Noor S, Kohler U, Schulte A: Easily made and handled carbon nanocones for scanning tunneling microscopy and electroanalysis. Carbon 2011, 49: 2402–2412. 10.1016/j.carbon.2011.02.007 Smit RH, Grande R, Lasanta B, Riquelme JJ, Rubio-Bollinger G, Agrait N: A low temperature scanning tunneling microscope for electronic and force spectroscopy. Rev Sci Instrum 2007, 78: 113705. 10.1063/1.2804165 Kim P, Kim JH, Jeong MS, Ko D-K, Lee J, Jeong S: Efficient electrochemical etching method to fabricate sharp metallic tips for scanning probe microscopes. Rev Sci Instrum 2006, 77: 103706–103705. 10.1063/1.2358703 Giessibl FJ: High-speed force sensor for force microscopy and profilometry utilizing a quartz tuning fork. Appl Phys Lett 1998, 73: 3956–3958. 10.1063/1.122948 Castellanos-Gomez A, Agraït N, Rubio-Bollinger G: Dynamics of quartz tuning fork force sensors used in scanning probe microscopy. Nanotechnology 2009, 20(21):215502. 10.1088/0957-4484/20/21/215502 Edwards H, Taylor L, Duncan W, Melmed A: Fast, high-resolution atomic force microscopy using a quartz tuning fork as actuator and sensor. J Appl Phys 1997, 82: 980. 10.1063/1.365936 Giessibl F: A direct method to calculate tip–sample forces from frequency shifts in frequency-modulation atomic force microscopy. Appl Phys Lett 2001, 78: 123. 10.1063/1.1335546 Hahn J, Hong Y, Kang H: Electron tunneling across an interfacial water layer inside an STM junction: tunneling distance, barrier height and water polarization effect. Appl Phys Mater Sci Process 1998, 66: 467–472. 10.1007/s003390051184 Castellanos-Gomez A, Agraït N, Rubio-Bollinger G: Force-gradient-induced mechanical dissipation of quartz tuning fork force sensors used in atomic force microscopy. Ultramicroscopy 2011, 111: 186–190. 10.1016/j.ultramic.2010.11.032 Xu B, Tao NJ: Measurement of single-molecule resistance by repeated formation of molecular junctions. Science 2003, 301: 1221. 10.1126/science.1087481 Venkataraman L, Klare JE, Nuckolls C, Hybertsen MS, Steigerwald ML: Dependence of single-molecule junction conductance on molecular conformation. Nature 2006, 442: 904–907. 10.1038/nature05037 Poirier GE, Pylant ED: The self-assembly mechanism of alkanethiols on Au (111). Science 1996, 272: 1145–1145. 10.1126/science.272.5265.1145 Gonzalez MT, Wu S, Huber R, van der Molen SJ, Schönenberger C, Calame M: Electrical conductance of molecular junctions by a robust statistical analysis. Nano Lett 2006, 6: 2238–2242. 10.1021/nl061581e Xia JL, Diez-Perez I, Tao NJ: Electron transport in single molecules measured by a distance-modulation assisted break junction method. Nano Lett 2008, 8: 1960–1964. 10.1021/nl080857a