Application of Proton Induced X-Rays for Chemical Analysis

Japanese Journal of Applied Physics - Tập 17 Số S2 - Trang 377 - 1978
Ren Chiba1, Yoshikazu Hashimoto2, Hiroshi Kutsuna2, Yo Osada2
1Department of Physics, Faculty of Science, Tokyo Institute of Technology, O'okayama, Meguro-ku, Tokyo 152, Japan
2Department of Applied Chemistry, Faculty of Engineering, Keio University, Hiyoshi, Yokohama 223, Japan

Tóm tắt

Từ khóa


Tài liệu tham khảo

Thông tin
Thông tin xuất bản

Japanese Journal of Applied Physics

Tập 17 Số S2

377

Thông tin tác giả