Bonse, U., Hart, M.: Appl. Phys. Lett.6, 155 (1965)
Bonse, U., Hart, M.: Z. Physik194, 1 (1966)
Ewald, P.P., H�no, Y.: Acta Cryst.A24, 5 (1968)
Mayer, G.: Z. Krist.66, 585 (1928)
Fues, E.: Z. Physik109, 14, 236 (1938)
Lamla, E.: Ann. Phys.36, 194 (1939)
Kambe, K.: J. Phys. Soc. Jap.12, 13, 25 (1957)
Penning, P., Polder, D.: Philips Res. Rep.23, 1, 12 (1968)
Borodina, T.I., Katznelson, A.A., Kissin, V.I.: phys. stat. sol.A3, 105 (1970)
Kshevetskaya, M.L., Kshevetsky, S.A., Mikhailyuk, I.P., Raransky, N.D.: Ukr. Fiz. Zh.18, 578, 2052 (1973)
Saccocio, E.J., Zajac, A.: Phys. Rev.139, A255 (1965)
Hildebrandt, G.: phys. stat. sol.24, 245 (1967)
Joko, T., Fukuhara, A.: J. Phys. Soc. Jap.22, 597 (1967)
Dalisa, A.L., Zajac, A., Ng, C.H.: Phys. Rev.168, 859 (1968)
Feldman, R., Post, B.: phys. stat. sol.A12, 273 (1972)
Kato, N.: Acta Cryst.11, 885 (1958)
von Laue, M.: R�ntgenstrahlinterferenzen, Frankfurt: Akademische Verlagsgesellschaft 1960
Hildebrandt, G., Umeno, M.: 10th Int. Congr. of Cryst. Amsterdam, 1975
Bonse, U., te Kaat, E.: Z. Physik243, 14 (1971)
Parratt, L.G.: Phys. Rev.50, 1 (1936)
Bonse, U., Materlik, G., Schr�der, W.: J. Appl. Cryst.9, 223 (1976)
Ando, M., Hosoya, S.: Proc. of the 6th Int. Conf. on X-Ray Optics and Microanalysis 63 (1972)
Becker, P., Bonse, U.: J. Appl. Cryst.7, 593 (1974)
