Ultramicroscopy
0304-3991
Cơ quản chủ quản: Elsevier
Lĩnh vực:
InstrumentationElectronic, Optical and Magnetic MaterialsAtomic and Molecular Physics, and Optics
Các bài báo tiêu biểu
Determination of the height of a microstructure sample by a SEM with a conventional and a digital photogrammetric method
Tập 63 - Trang 57-64 - 1996
Dose-rate dependence of electron-induced mass loss from organic specimens
Tập 80 Số 4 - Trang 247-254 - 1999
Nondestructive and local mapping photoresponse of WSe2 by electrostatic force microscopy
Tập 240 - Trang 113590 - 2022
Elastic and inelastic electrons in the double-slit experiment: A variant of Feynman's which-way set-up
Tập 154 - Trang 49-56 - 2015
A UHV-compatible photoelectron emission microscope for applications in surface science
Tập 36 Số 1-3 - Trang 148-153 - 1991
Effect of temperature on friction observed between a Si3N4 tip and a dodecanethiol self-assembled monolayer on Au(111)
Tập 91 - Trang 227-230 - 2002
Thermal nanometrology using piezoresistive SThM probes with metallic tips
Tập 193 - Trang 104-110 - 2018
Maximum entropy image deconvolution in high resolution electron microscopy
Tập 35 - Trang 339-350 - 1991
Multi-pore carbon phase plate for phase-contrast transmission electron microscopy
Tập 146 - Trang 91-96 - 2014
Prospects for quantitative and time-resolved double and continuous exposure off-axis electron holography
Tập 178 - Trang 48-61 - 2017