Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Phân tích thiết bị của các dấu vết không hoạt động thông qua kích hoạt bằng photon
Tóm tắt
Do những vấn đề ngày càng gia tăng liên quan đến việc không chấp nhận ứng dụng độ phóng xạ mở trong nghiên cứu công nghiệp hiện đại, một cuộc điều tra đã được thực hiện để nghiên cứu khả năng thay thế các chất đánh dấu phóng xạ bằng các chất không hoạt động được kích hoạt bởi photon sau khi lấy mẫu. Làm ví dụ, ngành công nghiệp chế biến thủy tinh đã được chọn để điều tra. Các kết quả đã được xác nhận bởi các thí nghiệm đánh dấu phóng xạ được thực hiện song song. Các dữ liệu thu được có sự phù hợp tốt.
Từ khóa
#kích hoạt photon #dấu vết không hoạt động #công nghiệp chế biến thủy tinh #nghiên cứu công nghiệpTài liệu tham khảo
Guidebook on Radioisotope Tracers in Industry, Techn. Rep. Ser. No. 316, IAEA, Vienna, 1990.
C. SEGEBADE, H. P. WEISE, G. J. LUTZ, Photon Activation Analysis, de Gruyter, Berlin-New York, 1987.
G. PHILIPP, H. J. SCHÜTZE, W. HIPPIUS, K. KÖPPING, H. ULLRICH, Silikattechnik 38 (1987) 277.
W. WESTMEIER, Gamma W, 1990.