Sự chuyển tiếp Peierls của muối cation gốc perylene với tỷ lệ 2:1 chứa tetrahydrofuran

Zeitschrift für Physik B Condensed Matter - Tập 96 - Trang 439-450 - 1995
M. Burggraf1, H. Dragan1, P. Gruner-Bauer1, H. W. Helberg2, W. F. Kuhs3, G. Mattern3, D. Müller2, W. Wendl4, A. Wolter1, E. Dormann1
1Physikalisches Institut, Universität Karlsruhe (TH), Karlsruhe, Germany
2Drittes Physikalisches Institut, Universität Göttingen, Göttingen, Germany
3Institut für Kristallographie, Universität Karlsruhe (TH), Karlsruhe, Germany
4Kristall-und Materiallabor, Universität Karlsruhe (TH), Karlsruhe, Germany

Tóm tắt

Cấu trúc tinh thể, độ dẫn vi sóng và độ nhạy từ tĩnh được phân tích cho các muối cation gốc perylene (PE) có thành phần danh nghĩa (PE)2(PF6)1−x(AsF6)x·2/3 THF cho 0≦x≦1. Các chuyển tiếp pha tinh thể trong pha kim loại nhiệt độ cao cũng được xác định bằng phép đo nhiệt lượng quét vi sai và cộng hưởng spin điện tử. Chuyển tiếp Peierls xảy ra ở 100–120 K (tùy thuộc vào x) và sự mở rộng khoảng cách năng lượng trong pha bán dẫn được xác định từ dữ liệu từ. Sự phụ thuộc của các thuộc tính này vào kích thước của các anion phức tạp và cách sắp xếp các phân tử PE cũng được thảo luận.

Từ khóa

#cấu trúc tinh thể #độ dẫn microwave #độ nhạy từ trường tĩnh #muối cation gốc perylene #chuyển tiếp Peierls #pha bán dẫn

Tài liệu tham khảo

Endres, H., Keller, H.J., Müller, B., Schweitzer, D.: Acta Crystallogr. C41, 607 (1985) Enkelmann, V., Göckelmann, K.: Ber. Bunsenges. Phys. Chem.91, 950 (1987) Köbler, U., Gmeiner, J., Dormann, E.: J. Magn. Magn. Mater.69, 189 (1987) Schimmel, Th., Koch, B., Geserich, H.P., Schwoerer, M.: Synth. Met.33, 311 (1989) Brütting, W., Rieß, W., Schwoerer, M.: Ann. Phys.1, 409 (1992) Hauenschild, C., Helberg, H.W., Riess, W., Brütting, W., Schwoerer, M.: Synth. Metals55–57, 2635 (1993) Nguyen, P.H., Paasch, G., Brütting, W., Rieß, W.: Phys. Rev. B49, 5172 (1994) Ilakovac, V., Ravy, S., Pouget, J.P., Riess, W., Brütting, W., Schwoerer, M.: J. de Phys. IV, C2, 137 (1993) Sheldrick, G.M. (1993), SHELX92, An integrated System for Solving, Refining and Displaying Crystal Structures from Diffraction Data, J. Appl. Crystallogr.: (in preparation) International Tables for X-ray crystallography, Vol. IV. Birmingham: Kynoch Press 1974 Helberg, H.W., Wartenberg, B.: Z. Angew. Phys.20, 505 (1966) Schaumburg, G., Helberg, H.W.: J. Phys. III (France)4, 917 (1994) Kittel, Ch.: Introduction to solid state physics: J. Wiley: New York: 1976 Burggraf, M.: Diplomarbeit, Universität Karlsruhe (TH) (unpublished 1994) Enkelmann, V., Habilitationsschrift, Universität Freiburg, 1983; Schmid, S.: Ph. D. Thesis, Universität Mainz, 1993 Lee, P.A., Rice, T.M., Anderson, P.W.: Phys. Rev. Lett31, 462 (1973) Johnston, D.C.: Phys. Rev. Lett.52, 2049 (1984); Solid State Commun.56, 439 (1985) Carneiro, K. In: Monceau, P. (ed.) Electronic properties of inorganic quasi-one-dimensional compounds. Part II: Experimental. Dordrecht: Reidel 1985