The Effects of Epoxy Encapsulant Composition on Semiconductor Device Stability

Journal of the Electrochemical Society - Tập 118 Số 1 - Trang 129 - 1971
R. C. Olberg1
1Research and Development Laboratory, Fairchild Camera and Instrument Corporation, Palo Alto, California 94304

Tóm tắt

Từ khóa


Tài liệu tham khảo

Thông tin
Thông tin xuất bản

Journal of the Electrochemical Society

Tập 118 Số 1

129

Thông tin tác giả