Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Dạy Kỹ Thuật Đặc Trưng Vật Liệu: Một Cách Tiếp Cận Liên Ngành Để Phát Triển Phần Mềm Dạy/Học Đa Phương Tiện Dựa Trên Web
Tóm tắt
Trong bước đầu tiên của một dự án lớn hơn nhằm phát triển phần mềm để dạy các kỹ thuật đặc trưng vật liệu, chúng tôi đã phát triển một mô-đun về kính hiển vi điện tử quét (SEM) để sử dụng chủ yếu trong Khoa Cơ khí. Mục tiêu là tận dụng khả năng độc đáo của máy tính để phát triển một gói phần mềm dựa trên web tương tác không phụ thuộc vào nền tảng nào, có thể được sử dụng như một ứng dụng độc lập hoặc hỗ trợ cho các lớp học "truyền thống" hiện có và nâng cao chất lượng giảng dạy. Các công cụ phát triển thương mại như Macromedia Dreamweaver cho các trang HTML, Macromedia Flash và JBuilder để tạo hoạt hình và hình ảnh hóa các khái niệm cơ bản cũng như mô phỏng hoạt động của kính hiển vi được sử dụng để cải thiện chất lượng giảng dạy.
Từ khóa
#kỹ thuật đặc trưng vật liệu #kính hiển vi điện tử quét #phần mềm dạy học #giảng dạy tương tác #chất lượng giảng dạyTài liệu tham khảo
L. Reimer, CD-ROM Rasterelektronenmikroskopie, University of Münster, Germany.
A. Fels, on-line course Rasterelektronenmikroskopie, http://www.reclot.de/kapitel/0kurs.htm, University of Stuttgart, Germany.
JEOL, Guide to Scanning Electron Microscope Observation, http://www.jeol.com/sem_gde/tbcontd.html.
A.R. Sampson, Scanning Electron Microscopy, http://www.mcs.net/∼ars/analytic/sem.htm, 1996.
P.F. Schmidt et al, Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse, Expert-Verlag, 2000.
J.I. Goldstein, D.E. Newbury, P. Echlin, D.C. Joy, A.D. Romig, Ch.E. Lyman, C. Fiori, and E. Lifshin, Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, 2nd ed., Plenum Press, New York and London, 1992.
D.E. Newbury, D.C. Joy, P. Echlin, Ch.E. Fiori, and J.I. Goldstein, Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, Plenum Press, New York and London, 1986.
V. Randle, Microstructure Determination and its Applications, The Institute of Materials, London, 1992.
D.C. Joy, Monte Carlo Modeling for Electron Microscopy and Microanalysis, Oxford University Press, 1995.