Công bố khoa học
Công cụ trích dẫn
Công bố khoa học
Trích dẫn
Tạp chí khoa học
Cơ quan đơn vị
Quản lý tài khoản
Danh mục đã lưu
Đăng xuất
Structure and chemistry of silicon surfaces after pre- and backsputtering, studied with Auger spectroscopy, ellipsometry, and RHEED
Surface Science
- Tập 38
- Trang 341-356
- 1973
Chuan C. Chang
1
,
P. Petroff
1
,
G. Quintana
1
,
J. Sosniak
1
1
Bell Laboratories Murray Hill, New Jersey 07974 U.S.A.
Đi đến bài gốc
Trích dẫn
Lưu lại
Báo lỗi
Tài liệu tham khảo
Thông tin
DOI
:
10.1016/0039-6028(73)90166-0
Thông tin xuất bản
Nhà xuất bản:
Surface Science
Tập/Số:
Tập 38
Trang:
341-356
Thông tin tác giả