Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Bất thường cấu trúc của các hạt bismuth mịn được quan sát bằng TEM chân không siêu cao
Tóm tắt
Đã phát hiện ra bất thường cấu trúc của hạt bismuth tại kích thước quan trọng là 8.4 nm. Các hạt nhỏ hơn 8.4 nm có cấu trúc hình thoi, chuyển sang cấu trúc giống hình khối ở kích thước quan trọng. Cấu trúc giống hình khối được bao quanh bởi vùng vỏ gồm các khối tinh thể hình thoi. Ranh giới giữa lõi và vùng vỏ tạo thành bề mặt giao diện liên kết để điều chỉnh sự không khớp của chúng chỉ bằng áp lực. Mặt khác, chúng tôi đã phát hiện ra sự dịch chuyển không khớp ở mỗi khoảng trống giữa các khối hình thoi, cái mà xảy ra do góc hình thoi (87.6°) khác với góc hình khối. Kích thước quan trọng được thảo luận trong bối cảnh giới thiệu và loại bỏ các dịch chuyển không khớp. Cấu trúc giống hình khối cũng được thảo luận theo áp lực bên trong do ứng suất bề mặt, so với kết quả của các thí nghiệm áp lực cao trên tinh thể bismuth khối.
Từ khóa
#bismuth #cấu trúc hình thoi #kích thước quan trọng #dịch chuyển không khớp #TEM chân không siêu caoTài liệu tham khảo
Halimaoui, A., et al.: Appl.Phys.Lett.59, 304 (1994)
Peng, C., Zhang, S., Li, G., Dai, D.: J.Appl.Phys. 76, 998 (1994)
Kubo, R.: J.Phys.Soc.Jpn. 17, 975 (1962)
Nishioka, H., Hansen, K., Mottelson, B.R.: Phys.Rev.B. 42, 9377 (1990)
Ino, S.: J.Phys.Soc.Jpn. 21, 346 (1966).; Ino, S.: J.Phys.Soc.Jpn. 27, 941 (1969)
Mitome, M., Takayanagi, K.: Ultramicroscopy 39, 382 (1991)
Kimoto, K., Nishida, I.: J.Phys.Soc.Jpn. 22, 744 (1967)
Onozawa, T., and Takayanagi, K.: Surf.Sci. 357–358, 228 (1996)
Brugger, R.M., Bennion, R.B., Worlton, T.G.: Phys.Lett. 24A, 714 (1967)
Aoki, K., Fujiwara, S., and Kusakabe, M.: J.Phys.Soc.Jpn. 51, 3826 (1982)
Chen, J.H., Iwasaki, H., Kikegawa, T., Yaoita, K., Tuji, K.: Proc.Intern. Conf.High Pressure Science & Technology, 421 (1994)
Hoffman, C.A., et al: Phys.Rev.B 48, 11431 (1993).; Chu, H.T.: Phys.Rev.B51, 5532 (1993)
Ogrin, Yu.F., et al: Pis’ma Zh. Eksp.Teor.Fiz. 3, 114 (1966)
Yokozeki, A., Stein, G.D.: J.Appl.Phys. 49 (4), 2224 (1978)
Mitome, M., Takayanagi, K., Tanishiro, Y.: Ultramicroscopy 33, 255 (1990)
Berry, R.S., Jellinek, J.J., Hatanson, G.: Phys.Rev.A 30, 919 (1984)
Mitome, M., Tanishiro, Y., Takayanagi, K.: Z.Phys.D. 12, 45 (1989)
Oshima, Y., Takayanagi, K.: Z.Phys.D. 27, 287 (1993)
Wulff, G.: Z.Kristallogr. 34, 449 (1901)
American Institute of Physics Handbook, 2-208