Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Đặc trưng cấu trúc của siêu mạng ngắn kỳ dựa trên cấu trúc dị thể CdF2/CaF2/Si(111) bằng kính hiển vi điện tử truyền qua và tuyển tập tia X
Tóm tắt
Một nghiên cứu chi tiết về cấu trúc của một siêu mạng ngắn kỳ dựa trên các lớp xen kẽ của cadmium fluoride và calcium fluoride được phát triển bằng phương pháp bắn chùm phân tử trên một nền silicon (111) đã được thực hiện bằng phương pháp kính hiển vi điện tử truyền qua và phân tích nhiễu xạ tia X. Đã xác định rằng siêu mạng ở trạng thái giả hình và một độ không đồng nhất bên cạnh với kích thước mảnh từ 10–40 nm đã được tìm thấy. Nguyên nhân dẫn đến sự mở rộng của các đỉnh chính và đỉnh vệ tinh của siêu mạng trên đường cong nhiễu xạ (111) đã được giải thích.
Từ khóa
#siêu mạng ngắn kỳ #cadmium fluoride #calcium fluoride #kính hiển vi điện tử truyền qua #phân tích nhiễu xạ tia X #silicon (111)Tài liệu tham khảo
L. Esaki and R. Tsu, IBM J. Res. Develop. 14, 61 (1970). https://doi.org/10.1147/rd.141.0061
A. Spindlberger, D. Kysylychyn, L. Thumfart, R. Adhikari, A. Rastelli, and A. Bonannia, Appl. Phys. Lett. 118, 062105 (2021). https://doi.org/10.1063/5.0040811
R. Ramesh and D. G. Schlom, Nat. Rev. Mater. 4, 257 (2019). https://doi.org/10.1038/s41578-019-0095-2
S. Das, A. Ghosh, M. R. McCarter, S.-L. Hsu, Y.-L. Tang, A. R. Damodaran, R. Ramesh, and L. W. Martin, APL Mater. 6, 100901 (2018). https://doi.org/10.1063/1.5046100
H.-U. Habermeier, Low Temp. Phys. 42, 840 (2016). https://doi.org/10.1063/1.4965889
K. V. Ivanovskikh, R. B. Hughes-Currie, M. F. Reid, J.-P. R. Wells, N. S. Sokolov, and R. J. Reeves, J. Appl. Phys. 119, 104305 (2016). https://doi.org/10.1063/1.4943498
N. S. Sokolov, S. V. Gastev, S. V. Novikov, N. L. Yakovlev, A. Izumi, and S. Furukawa, Appl. Phys. Lett. 64, 2964 (1994). https://doi.org/10.1063/1.111395
N. S. Sokolov and S. M. Suturin, Thin Solid Films 367, 112 (2000).
N. S. Sokolov, S. V. Gastev, A. Yu. Khilko, R. N. Kyutt, S. M. Suturin, and M. V. Zamoryanskaya, J. Cryst. Growth 201–202, 1053 (1999). https://doi.org/10.1016/S0022-0248(98)01515-2
P. B. Hirsh, A. Howie, B. B. Nicholson, D. W. Pashley, and M. J. Whelan, Electron Microscopy of Thin Crystals (Butterworths, London, 1965), p. 129.
R. N. Kyutt, A. Yu. Khil’ko, and N. S. Sokolov, Phys. Solid State 40, 1417 (1998).
R. N. Kyutt, Metallofiz. Noveish. Tekhnol. 24, 497 (2002).
G. A. Val’kovskii, M. V. Durnev, M. V. Zamoryanskaya, S. G. Konnikov, A. V. Krupin, A. V. Moroz, N. S. Sokolov, A. N. Trofimov, and M. A. Yagovkina, Phys. Solid State 55, 1498 (2013).