Công bố khoa học
Công cụ trích dẫn
Công bố khoa học
Trích dẫn
Tạp chí khoa học
Cơ quan đơn vị
Quản lý tài khoản
Danh mục đã lưu
Đăng xuất
Spectroscopic ellipsometry measurements of the diamond-crystalline Si interface in chemically vapour-deposited polycrystalline diamond films
Diamond and Related Materials
- Tập 2
- Trang 728-731
- 1993
J. Cifre
1
,
J. Campmany
1
,
E. Bertran
1
,
J. Esteve
1
1
Department Fisica Aplicada i Electrònica, Universitat de Barcelona, Avenida Diagonal 645–647, E-08028 Barcelona Spain
Đi đến bài gốc
Trích dẫn
Lưu lại
Báo lỗi
Tài liệu tham khảo
Thông tin
DOI
:
10.1016/0925-9635(93)90212-k
Thông tin xuất bản
Nhà xuất bản:
Diamond and Related Materials
Tập/Số:
Tập 2
Trang:
728-731
Thông tin tác giả