Spectroscopic ellipsometry measurements of the diamond-crystalline Si interface in chemically vapour-deposited polycrystalline diamond films

Diamond and Related Materials - Tập 2 - Trang 728-731 - 1993
J. Cifre1, J. Campmany1, E. Bertran1, J. Esteve1
1Department Fisica Aplicada i Electrònica, Universitat de Barcelona, Avenida Diagonal 645–647, E-08028 Barcelona Spain

Tài liệu tham khảo