Simultaneous reduction in volume of test data andpowerdissipation for systems-on-a-chip

Electronics Letters - Tập 37 Số 24 - Trang 1434-1436 - 2001
Paul Rosinger1, P.T. Gonciari1, B.M. Al-Hashimi1, Nicola Nicolici2
1University of Southampton, Southampton,United Kingdom
2McMaster University, Hamilton, Canada

Tóm tắt

Từ khóa


Tài liệu tham khảo

Zorian, 1993, Proc. 11th IEEE VLSI Test Symp., 4

Nicolici, 2000, 147, 313, 10.1049/ip-cdt:20000537

Chandra, 2001, Proc. IEEE/ACM Design Automation Conf. (DAC), 166

Dabholkar, 1998, 17, 1325, 10.1109/43.736572

Thông tin
Thông tin xuất bản

Electronics Letters

Tập 37 Số 24

1434-1436

Thông tin tác giả