Simulation of drop/impact reliability for electronic devices

Finite Elements in Analysis and Design - Tập 41 - Trang 667-680 - 2005
Y.Y. Wang1, C. Lu1, J. Li1, X.M. Tan1, Y.C. Tse1
1Institute of High Performance Computing, 1 Science Park Road, #01-01 The Capricorn, Singapore 117528, Singapore

Tài liệu tham khảo

Thông tin
Thông tin xuất bản

Finite Elements in Analysis and Design

Tập 41

667-680

Thông tin tác giả