Diễn xạ electron nhỏ góc trong khu vực chọn lựa

Journal of Materials Science - Tập 2 - Trang 457-469 - 1967
G. S. Y. Yeh1, P. H. Geil1
1Department of Polymer Science and Engineering, Case Institute of Technology, Cleveland, USA

Tóm tắt

Đã đạt được phương pháp diễn xạ electron trong khu vực chọn lựa, có khả năng phân giải khoảng cách lên đến 2000 Å từ các phản xạ rời rạc bậc nhất bằng cách sử dụng kính hiển vi electron có hai bộ ngưng tụ tiêu chuẩn. Kỹ thuật này cho phép chụp ảnh khu vực được chọn, với độ phóng đại đủ lớn, tạo ra mẫu tán xạ nhỏ góc, bên cạnh các khả năng bình thường của việc thu được hình ảnh diễn xạ góc rộng và hình vi trường tối góc rộng và nhỏ. Hầu hết, nhưng không phải tất cả, các kết quả của các nghiên cứu diễn xạ electron nhỏ góc rời rạc và mờ từ một loạt các mẫu khác nhau bao gồm polyethylene được kéo, hạt latex, hạt vàng bay hơi, bản sao vân, và các cạnh khe đã được giải thích dựa trên cấu trúc quan sát được trong các hình vi electron tương ứng. Diễn xạ electron nhỏ góc được tìm thấy là nhạy hơn đối với các khuyết tật trong việc xếp chồng của các trung tâm tán xạ hơn là tán xạ X-quang nhỏ góc.

Từ khóa

#diễn xạ electron nhỏ góc #kính hiển vi electron #tán xạ nhỏ góc #vật liệu polyme #hạt latex #hạt vàng bay hơi

Tài liệu tham khảo

P. H. Geil,J. Polymer Sci. C13 (1966) 149. W. O. Statton, “New Methods of Polymer Characterisation”, Vol. 6, edited by B. Ke (Interscience, New York, 1964), pp. 231–78. C. Reinhold, E. W. Fischer, andA. Peterlin,J. Appl. Phys. 35 (1964) 71. G. S. Y. Yeh, Ph.D. thesis, Case Institute of Technology, Cleveland (November 1966). H. Von Mahl andW. Weitsch,Z. Naturforsch. A15 (1960) 1051. G. A. Bassett andA. Keller,Phil. Mag. 9 (1964) 817. P. H. Geil,J. Polymer Sci. A2 (1964) 3825. E. W. Fischer andG. Schmidt,Angew. Chem. 74 (1962) 551. P. H. Geil, “Polymer Single Crystals” (Interscience, New York, 1963). R. Hosemann,J. Appl. Phys. 34 (1963) 25. K. Kobayashi andM. Kurokawa,Nature 196 (1962) 196. K. L. Yudowitch,J. Appl. Phys. 22 (1951) 214. H. Kiho, (Dreyfus Lab, Durham, NC, USA), private communication. M. Woods andJ. Dodge, (Case Institute of Technology, Cleveland, Ohio, USA), private communication. P. E. Doherty andR. S. Davis,J. Appl. Phys. 34 (1963) 619. A. Guinier andG. Fournet, “Small Angle Scattering of X-rays” (Wiley, New York, 1955). C. E. Hall, “Introduction to Electron Microscopy” (McGraw-Hill, New York, 1966). H. C. Van De Hülst, “Light Scattering by Small Particles” (Wiley, New York, 1957). A. Peterlin, P. Ingram, andH. Kiho,Makromol. Chem. 86 (1965) 294.