Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Springer US - 1992
Joseph I. Goldstein1, Dale E. Newbury2, Patrick Echlin3, David C. Joy4, A. D. Romig5, Charles E. Lyman1, Charles E. Fiori2, Eric Lifshin6
1Lehigh University, Bethlehem, USA
2National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, USA
3University of Cambridge, Cambridge, England
4University of Tennessee, Knoxville, USA
5[Sandia National Laboratories, Albuquerque, USA]
6General Electric Corporate Research and Development, Schenectady, USA

Tóm tắt

Từ khóa


Tài liệu tham khảo

Thông tin
Thông tin xuất bản

Springer US

Thông tin tác giả