Radiation stimulated annealing of structural defects in layer structures based on Si and III–V compounds

Acta Physica Hungarica - Tập 59 Số 3-4 - Trang 327-332 - 1986
O. Yu. Borkovskaya1, N. L. Dmitruk1, Vasilij Y. Kiblik1, V. G. Litovchenko1, R. O. Litvinov1
1Institute of Semiconductors, Academy of Sciences of Ukrainian SSR, Kiev, USSR

Tóm tắt

Từ khóa


Tài liệu tham khảo

V. S. Vavilov, A. E. Kiv and O. R. Niyazova, The Mechanisms of Defect Creation and Migration in Semiconductors, Nauka, Moscow, 1981.

M. N. Abuladze, A. B. Gerasimov, V. G. Litovchenko, T. E. Melkadze and A. G. Shillo, Fiz. Tekh. Polupr.,8, 791, 1974.

V. A. Zuev, D. V. Korbutyak and V. G. Litovchenko, Fiz. Tekh. Polupr.,8, 1651, 1974.

V. G. Litovchenko, V. Ya. Kiblik and R. O. Litvinov, Ukr. Fiz. Zh.,22, 1097, 1977, Optoelektronika i poluprovodnikovaya tekhn., Naukova Dumka, Kiev,1, 69, 1982.

O. Yu. Borkovskaya, N. L. Dmitruk, R. V. Konakova and V. G. Litovchenko, Radiat. Eff.,42, 249, 1979; Phys. Stat. Sol. (a),58, K 25, 1980.

D. I. Fitzgerald and A. S. Grove, Patent N 3513035, 1970, USA.