Qin Q.‐H., 2009, Effective Coupling Properties of Heterogeneous Materials
10.1016/j.jmps.2018.02.016
10.1007/s11831-007-9012-8
10.1016/j.jpowsour.2009.01.021
10.1016/S0065-2156(02)80104-1
10.1016/j.tafmec.2003.11.019
10.1016/0022-3697(87)90120-X
10.1016/S1369-7021(08)70119-6
10.1111/j.1551-2916.2005.00383.x
10.1007/s10853-005-5915-7
10.1016/j.jmps.2012.08.008
10.1016/S1359-6454(03)00331-8
10.1016/S0020-7683(00)00162-1
10.1038/natrevmats.2016.46
10.1080/00150199408245120
10.1007/s11661-011-0847-0
10.1007/s10008-011-1545-y
10.1016/j.electacta.2012.02.032
10.1016/j.tsf.2010.10.014
10.1016/j.mechmat.2015.05.005
Zeng K. Y., 2006, Handbook of Theoretical and Computationl Nanotechnology, 387
10.1007/s12034-009-0037-5
10.1088/0022-3727/43/39/395104
10.1016/j.jallcom.2017.03.169
10.1016/j.actamat.2016.10.051
10.1016/S0167-5729(02)00077-8
10.1103/PhysRevB.64.193411
10.1080/10408430903362230
10.1002/9783527699773.ch3
10.1016/j.surfrep.2010.10.001
10.1007/978-3-319-75687-5
10.1088/0957-4484/12/4/321
Ferri F. A., 2012, Atomic Force Microscopy: Imaging, Measuring and Manipulating Surfaces at the Atomic Scale
10.1146/annurev.matsci.29.1.505
10.1016/j.jpowsour.2008.02.054
10.1021/acs.langmuir.6b01932
10.1017/S1431927606060156
10.1146/annurev.matsci.37.052506.084323
10.1146/annurev-matsci-071312-121632
10.1016/j.jmat.2015.03.001
10.1021/acs.langmuir.6b01018
10.1017/S1551929512000764
10.1146/annurev.matsci.37.052506.084331
10.1007/978-3-540-85037-3_5
10.1007/978-1-4419-7167-8_4
10.1016/j.biomaterials.2016.08.038
10.1016/j.eurpolymj.2013.03.037
10.1021/acs.chemrev.6b00448
10.1016/j.nanoen.2012.01.004
10.1038/s41528-017-0007-8
10.1016/j.rser.2010.11.032
10.1016/j.rser.2011.07.104
10.1109/TMAG.2017.2707402
10.1103/PhysRevB.95.064420
10.1021/acs.nanolett.5b03274
Wong M. F., 2010, J. Appl. Phys., 107, 1
10.1111/j.1551-2916.2010.04204.x
10.1016/j.jmat.2016.08.001
10.1016/j.ultramic.2005.10.005
10.1016/j.jsb.2005.10.008
10.1103/PhysRevLett.108.078103
10.1016/S1369-7021(08)70235-9
Sadewasser S., 2018, Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization, 119, 10.1007/978-3-319-75687-5_5
10.1016/j.eurpolymj.2013.03.005
10.1038/s41467-017-00245-9
10.1103/PhysRevLett.56.930
Kocun M., 2014, Microsc. Anal., 28, 21
10.1088/0957-4484/18/47/475504
10.1088/0957-4484/18/43/435503
10.1088/0022-3727/44/46/464006
10.1146/annurev-physchem-040513-103609
10.1017/S155192951000101X
10.1007/978-0-387-28668-6_30
Nonnenmann S. S., 2013, Scanning Probe Microscopy for Energy Research, 457, 10.1142/9789814434713_0016
Wu S., 2013, Scanning Probe Microscopy for Energy Research, 481, 10.1142/9789814434713_0017
10.1016/j.microrel.2017.07.082
10.1016/S0167-5729(99)00003-5
10.1097/CCM.0000000000002732
10.1016/j.jpowsour.2017.03.082
10.1016/j.jmat.2018.01.005
10.1017/S1551929517001043
10.1038/s41535-017-0061-4
10.1080/1023666X.2017.1391740
Garcia R., 2013, Scanning Probe Microscopy for Energy Research, 529, 10.1142/9789814434713_0019
Sadewasser S., 2011, MRS Proc., 668, H5.4, 10.1557/PROC-668-H5.4
10.1088/0957-4484/27/24/245705
10.1016/j.cap.2016.12.012
10.1021/acs.nanolett.6b04247
10.1103/PhysRevB.68.134415
10.1021/acs.jpclett.5b00389
10.1016/j.actamat.2015.01.021
10.1103/PhysRevB.87.220101
10.1016/j.polymer.2013.07.062
10.1016/j.actamat.2014.08.058
10.1088/0953-8984/27/46/463003
10.1103/PhysRevB.87.134426
10.1088/0953-8984/24/43/432201
10.1103/PhysRevLett.114.177203
10.1016/j.jpowsour.2011.08.115
10.1016/j.electacta.2006.12.076
10.1021/acs.jpclett.5b00182
10.1021/acsenergylett.6b00697
10.1021/acsenergylett.8b00121
10.1016/j.nanoen.2018.02.049
10.1038/s41535-018-0104-5
10.1016/j.actamat.2011.03.001
10.1016/j.jsb.2012.06.004
10.1016/j.actbio.2013.01.003
10.1007/978-3-540-85049-6_2
10.1007/978-0-387-28668-6_23
10.1146/annurev-genet-110711-155608
10.1016/j.biomaterials.2017.09.024