Chuẩn bị màng mỏng CrO2 sử dụng tiền chất Cr8O21

Springer Science and Business Media LLC - 2011
Y. Muraoka1,2, K. Iwai2, S. Yoshida2, T. Wakita2, M. Hirai2,1, T. Yokoya1,2, Y. Kato3, T. Muro3, Y. Tamenori3
1Faculty of Science, Research Laboratory for Surface Science, Okayama University, Kita-ku, Okayama, Japan
2Graduate School of Natural Science and Technology, Okayama University, Kita-ku, Okayama, Japan
3Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI/SPring-8), Sayo, Hyogo, Japan

Tóm tắt

Chúng tôi đã chế tạo một màng mỏng CrO2 bằng phương pháp lắng đọng hơi hóa học từ tiền chất Cr8O21 và nghiên cứu các tính chất vật lý khối và bề mặt. Màng mỏng CrO2 được phát triển trên nền TiO2(100) bằng cách làm nóng tiền chất và nền TiO2(100) cùng nhau trong một ống thạch anh kín. Phân tích nhiễu xạ tia X cho thấy màng chế tạo được là một pha đơn hướng (100). Các phép đo từ hóa và điện trở cho thấy màng là một kim loại sắt từ với nhiệt độ Curie khoảng 400 K. Quang phổ electron vĩ mô Cr 3s và quang phổ vùng hóa trị cho thấy sự hiện diện của CrO2 kim loại trong vùng bề mặt của màng. Công trình của chúng tôi chỉ ra rằng việc chuẩn bị từ tiền chất Cr8O21 trong một hệ kín là triển vọng để thu được màng mỏng CrO2 với bề mặt kim loại.

Từ khóa

#CrO2 #màng mỏng #tiền chất Cr8O21 #lắng đọng hơi hóa học #tính chất vật lý #điện trở #từ hóa

Tài liệu tham khảo

K. Schwarz, J. Phys. F: Met. Phys. 16, L211 (1986).

R. J. Soulen Jr., J. M. Byers, M. S. Osofsky, B. Nadgorny, T. Ambrose, S. F. Cheng, P. R. Broussard, C. T. Tanaka, J. Nowak, J. S. Moodera, A. Barry, and J. M. D. Coey, Science 282, 85 (1998).

A. Anguelouch, A. Gupta, G. Xiao, D. W. Abraham, Y. Ji, S. Ingvarsson, and C. L. Chien, Phys. Rev. B 64, 180408 (2001).

R. Cheng, B. Xu, C. N. Borca, A. Sokolov, C. –S. Yang, L. Yuan, S. –H. Liou, B. Doudin, and P. A. Dowben, Appl. Phys. Lett. 79, 3122 (2001).

P. G. Ivanov, S. M. Watts, and D. M. Lind, J. Appl. Phys. 89, 1035 (2001).

P. G. Ivanov, and K. M. Bussmann, J. Appl. Phys. 105, 07B107 (2009).

X. W. Li, A. Gupta, T. R. McGuire, P. R. Duncombe, and G. Xiao, Appl. Phys. Lett. 85, 5585 (1999).

P. A. Stampe, R. J. Kennedy, S. M. Watts, and S. V. Molnár, J. Appl. Phys. 89, 7696 (2001).

R. Zimmermann, P. Steiner, R. Claessen, F. Reinert, S. Hüfner, P. Blaha, and P. Dufek, J. Phys.: Condens. Matter 11, 1657 (1999).

S. Hüfner, Photoelectron Spectroscopy, Springer, Berlin, 2003.

R. Zimmermann, P. Steiner, R. Claessen, F. Reinert, and S. Hüfner, J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom. 96, 179 (1998).

Thông tin
Thông tin xuất bản

Springer Science and Business Media LLC

Thông tin tác giả