Precision sample positioning in a SIMS ion microscope

Applications of Surface Science - Tập 20 - Trang 336-338 - 1985
J.-M. Lang1, F. Degreve1
1Cégédur Péchiney, Centre de Recherches, BP27, F-38340 Voreppe, France

Tài liệu tham khảo

Williams, 1983, Appl. Surface Sci., 16, 345, 10.1016/0378-5963(83)90078-8 Degrève, 1982, J. Microsc. Spectrosc. Electron., 7, 248
Thông tin
Thông tin xuất bản

Applications of Surface Science

Tập 20

336-338

Thông tin tác giả