M. Kuntz, G. Fiol, M. Lammlin, et al., Electron. Lett. 41, 244 (2005).
F. Gerschutz, M. Fischer, J. Koeth, et al., Electron. Lett. 42, 1457 (2006).
M. Sugawara, N. Hatori, M. Ishida, et al., J. Phys. D: Appl. Phys. 38, 2126 (2005).
X. Huang, A. Stintz, H. Li, et al., IEEE J. Quantum Electron. 37, 414 (2001).
A. Ramdane, D. Delprat, N. Souli, et al., J. Phys. (France) 9, 22 (1999).
N. El Dahdah, G. Aubin, J.-C. Harmand, et al., Appl. Phys. Lett. 84, 4268 (2004).
N. Edagawa, M. Suzuki, and S. Yamamoto, IEICE Trans. Electron. 81-C, 1251 (1998).
M. Pamplona Pires, B. Yavich, and P. L. Souza, Appl. Phys. Lett. 75, 271 (1999).
V. Aimez, J. Beauvais, J. Beerens, et al., Appl. Phys. Lett. 79, 3582 (2001).
M. M. Sobolev, A. R. Kovsh, V. M. Ustinov, et al., Fiz. Tekh. Poluprovodn. (St. Petersburg) 33, 184 (1999) [Semiconductors 33, 157 (1999)].
M. M. Sobolev, G. E. Nirlin, Yu. B. Samsonenko, et al., Fiz. Tekh. Poluprovodn. (St. Petersburg) 39, 1088 (2005) [Semiconductors 39, 1053 (2005)].
M. M. Sobolev, V. M. Ustinov, and G. E. Cirlin, Physica B 340–342, 1103 (2003).
M. M. Sobolev, G. E. Cirlin, Yu. B. Samsonenko, et al., Fiz. Tekh. Poluprovodn. (St. Petersburg) 39, 126 (2005) [Semiconductors 39, 119 (2005)].
M. M. Sobolev, A. E. Zhukov, A. P. Vasil’ev, et al., Fiz. Tekh. Poluprovodn. (St. Petersburg) 40, 336 (2006) [Semiconductors 40, 331 (2006)].
A. Gubenko et al., Electron. Lett. 41, 1124 (2005).
K. F. Karlsson, V. Troncale, D. Y. Oberli, et al., Appl. Phys. Lett. 89, 251 113 (2006).