Vật lý và Ứng dụng của Ferrite Bismuth

Advanced Materials - Tập 21 Số 24 - Trang 2463-2485 - 2009
Gustau Catalán1, J. F. Scott1
1Department of Earth Sciences, University of Cambridge, Downing Street, Cambridge CB2 3EQ, United Kingdom

Tóm tắt

Tóm tắtBiFeO3 có lẽ là vật liệu duy nhất vừa có tính từ tính vừa là điện môi mạnh ở nhiệt độ phòng. Do đó, nó đã có ảnh hưởng đến lĩnh vực đa ferro, tương đương với ảnh hưởng của yttrium barium copper oxide (YBCO) lên siêu dẫn, với hàng trăm công trình nghiên cứu được thực hiện trong vài năm qua. Trong bài Tổng quan này, chúng tôi cố gắng tóm tắt cả vật lý cơ bản và những khía cạnh chưa được giải quyết của BiFeO3 (vẫn đang được khám phá với một số chuyển pha mới được báo cáo trong vài tháng qua) và các ứng dụng thiết bị, tập trung vào spintronics và các thiết bị bộ nhớ có thể được truy cập cả về điện và từ.

Từ khóa

#Ferrite Bismuth #đa ferro #spintronics #ứng dụng #chuyển pha

Tài liệu tham khảo

Curie P., 1894, J. Physique, 3, 393

Valasek J., 1920, Phys. Rev., 15, 537

Perrier A., 1922, Arch. Sci. Phys. Nat. (Geneva), 4, 373

Perrier A., 1923, Arch. Sci. Phys. Nat. (Geneva), 5, 333

O'Dell T. H., 1970, The Electrodynamics of Magneto‐electric Media

Dzyaloshinskii I. E., 1959, Zh. Eksp. Teor. Fiz., 37, 88

1959, Sov. Phys. — JETP, 10, 628

Astrov D. N., 1960, Zh. Eksp. Teor. Fiz., 38, 984

1960, Sov. Phys. — JETP, 11, 708

10.1063/1.1708493

Smolensky G. A., 1959, Sov. Phys. — Solid State, 1, 150

Smolenskii G. A., 1958, Zh. Tekh. Fiz., 28, 2152

Smolenskii A., 1958, Sov. Phys. — Tech. Phys., 3, 1981

10.3367/UFNr.0137.198207b.0415

10.1070/PU1982v025n07ABEH004570

Smolenskii G. A., 1962, Sov. Phys. — Solid State, 4, 807

Schmid H., 1994, Ferroelectrics, 162, 665

10.1088/0022-3727/38/8/R01

10.1038/nature05023

10.1126/science.1080615

10.1103/PhysRevB.76.024116

10.1063/1.2753390

D.Lebeugle ‘Groupement de Recherche sur les Nouveaux Etats Electroniques de la Matiere: GdR NEEM’; Gif sur Yvette November 2006.

10.1103/PhysRevB.76.172105

10.1063/1.2771380

D.Lebeugle Ph.D. Thesis(Saclay Institute of Matter and Radiation) 2007.

10.1126/science.1105422

10.1063/1.2009808

Hill N. A., 2000, J. Phys. Chem., 104, 6694, 10.1021/jp000114x

10.1103/PhysRevB.65.195120

10.1038/358136a0

Wu Z., 2005, Phys. Rev. Lett., 95, 9 037 601

10.1103/PhysRevLett.96.067601

10.1038/nmat1804

10.1103/PhysRevLett.97.227204

10.1038/nmat1236

10.1088/0953-8984/19/40/406213

10.1080/01411590801992463

10.1088/0022-3719/10/11/011

10.1103/PhysRevLett.100.167203

10.1088/0953-8984/20/43/434219

10.1080/00150199508223577

10.1107/S0108768107005290

2003 59 811;

2003 59 541;

2002 58 34;

2002 58 316;

2000 56 793;

1996 52 790.

10.1107/S0108768196004582

10.1080/00150199008223810

1999 55 494;

1989 45 228;

1988 44 585.

10.1080/00150199208230007

10.1063/1.343369

10.1063/1.345219

10.1063/1.2903525

10.1107/S0108768101006164

10.1107/S0108768195008366

10.1107/S0108768190004256

10.1016/0038-1098(80)90916-3

10.1016/0038-1098(81)90169-1

10.1016/S0022-1139(00)85370-1

Tressauld A., 1982, Rev. Chim. Minerale, 19, 128

10.1051/jp3:1997175

10.1007/BF00845708

Morozov M. I., 2003, Russ. J. Gen. Chem., 73, 1680

10.1103/PhysRevB.77.014110

10.1021/cm071730

Krainik N. N., 1966, Sov. Phys. — Solid State, 8, 654

H. Schmid: private communication.

10.1063/1.2752724

10.1103/PhysRevLett.97.177601

10.1016/0022-0248(72)90523-4

10.1016/0022-0248(72)90090-5

10.1007/BF02645718

10.1143/JJAP.34.5096

10.1016/S0022-3697(71)80189-0

Filip'ev V.S, 1960, Kristallografiya, 5, 958

1960, Sov. Phys. — Crystallogr., 5, 913

10.1107/S0108768190006887

10.1107/S0021889872009173

10.1016/j.jallcom.2007.05.034

10.1107/S0108768107023956

10.1007/BF01507527

10.1107/S0567739476001551

10.1107/S0567739475000332

10.1002/pssa.2210230228

Krainik N. N., 1965, Izv. Akad. Nauk ser. Fiz., 29, 1026

10.1080/01411590601067342

10.1103/PhysRevB.73.132101

10.1103/PhysRevLett.99.227602

10.1103/PhysRevB.78.134108

10.1002/adma.200800218

10.1103/PhysRevLett.102.027602

S. A. T.Redfern J. N.Walsh S. M.Clark G.Catalan J. F.Scott arXiv:0901.3748 2009.

10.1088/0022-3719/10/9/010

10.1016/0550-3213(90)90438-J

10.1021/cm071827w

10.1103/PhysRevB.77.155112

10.1103/PhysRevB.79.064102

10.1063/1.2982101

A.Pashkin K.Rabia S.Frank C. A.Kuntscher R.Haumont R.Saint‐Martin J.Kreisel arXiv:0712.0736v1 2007.

81bR.Haumont P.Bouvier A.Pashkin K.Rabia S.Frank B.Dkhil W. A.Crichton C. A.Kuntscher J.Kreisel arXiv:0811.0047 2008.

10.1134/S0021364007200088

10.1134/S0021364007150106

Gavriliuk A. G., 2007, Mater. High Press., 987, 147

Gavriliuk A. G., 2007, Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 987, 05

10.1111/j.1551-2916.2008.02404.x

Polomska M., 1974, Acta Phys. Polonica A, 45, 199

10.1016/0375-9601(91)90467-M

10.1134/1.1537425

10.1088/0022-3727/40/4/043

10.1080/00150199708222185

Toledano J. C., 1974, Annal. Telecomm., 29, 249, 10.1007/BF02996935

10.1088/0022-3719/11/14/011

10.1103/PhysRevB.74.224412

T. T.Carvalho European Summer School of Multiferroics Girona 2008.

10.1140/epjst/e2008-00543-0

10.1016/j.matchemphys.2007.02.003

10.1103/PhysRevB.75.024403

10.1016/j.jeurceramsoc.2006.04.135

10.1063/1.2901160

10.1016/j.matlet.2008.04.006

10.1063/1.2716868

10.1134/1.2121819

10.1088/0022-3719/6/8/009

10.1088/0953-8984/20/25/252203

10.1103/RevModPhys.40.677

10.1103/PhysRevB.45.5784

10.1103/PhysRevB.45.8209

10.1103/PhysRevB.47.12357

10.1103/PhysRevB.52.9248

10.1103/PhysRevLett.95.257601

10.1016/0038-1098(70)90262-0

10.1063/1.2731312

10.1063/1.1764944

10.1063/1.1924891

10.1143/JJAP.45.7311

10.1063/1.2392818

10.1080/09500830701235802

10.1063/1.2830799

10.1063/1.2750524

10.1103/PhysRevLett.94.176101

10.1103/PhysRevLett.96.127602

10.1126/science.1103218

10.1038/nature02773

10.1103/PhysRevLett.101.107602

10.1063/1.2430678

10.1063/1.2743733

10.1063/1.120960

10.1016/0038-1098(75)90726-7

10.1063/1.2229667

10.1038/nature06156

10.1063/1.2177543

Scott J. F., 1989, JETP Lett., 49, 233

10.1103/PhysRevLett.100.227602

10.1088/0022-3719/15/23/020

10.1088/0953-8984/20/32/322203

10.1088/0953-8984/20/42/425223

10.1016/j.ssc.2006.08.046

10.1143/JPSJ.75.084718

10.1088/0953-8984/18/6/019

10.1134/1.1630133

10.1134/1.1499907

10.1134/1.1307994

10.1088/0953-8984/20/43/434201

10.1063/1.2930678

10.1103/PhysRevLett.101.037601

10.1088/0953-8984/20/45/452205

10.1103/PhysRevB.77.144403

10.1103/PhysRevB.25.1822

10.1103/PhysRevB.31.1490

10.1103/PhysRevB.22.5394

10.1103/PhysRevB.71.060401

10.1016/S0304-8853(02)01172-1

10.1016/S0022-3697(74)80003-X

10.1088/0953-8984/21/4/042202

10.1063/1.1881775

10.1063/1.354179

10.1103/PhysRevB.17.4384

10.1017/CBO9780511628771

10.1063/1.2159552

V. V.Shvartsman R.Haumont W.Kleemann unpublished.

10.1088/0305-4470/11/5/028

10.1063/1.2147719

10.1063/1.2711279

10.7567/JJAPS.24S2.1051

10.1002/pssa.2210570108

Popov Y. F., 1993, JETP Lett., 57, 69

10.1016/j.jmmm.2005.10.068

10.1134/1.1787107

10.1016/0304-8853(94)01120-6

10.1103/PhysRevB.72.104434

10.1063/1.1851612

10.1038/nmat1731

10.1063/1.366632

Landau L. D., 1935, Phys. J. Sowjetunion, 8, 153

10.1103/PhysRev.70.965

10.1103/PhysRev.90.193

10.1002/pssa.2210370141

10.1080/00150190802437969

10.1088/0953-8984/19/13/132201

10.1063/1.2472092

10.1103/PhysRevLett.100.027602

10.1038/nmat2373

10.1080/00150199708222212

10.1103/PhysRevLett.90.177204

10.1103/PhysRevB.70.220407

10.1021/nl063039w

10.1063/1.2345825

10.1103/PhysRev.102.1289

10.1063/1.349826

10.1039/b409988e

10.1063/1.2076437

10.1103/PhysRevB.77.024106

Fujitsu website:http://www.fujitsu.com/my/news/pr/fmal20060808. html(accessed January 2009).

10.1063/1.2842418

10.1063/1.1595726

10.1063/1.123756

10.1103/PhysRevLett.84.5423

10.1063/1.2931706

10.1103/PhysRevLett.96.117402

10.1088/0953-8984/20/38/380301

10.1088/0953-8984/20/43/434221

10.1016/S0304-8853(98)00266-2

10.1103/PhysRevLett.94.117203

10.1103/PhysRevLett.97.227201

10.1002/adma.200502622

10.1063/1.2402204

10.1103/PhysRevLett.100.017204

10.1038/nmat2184

Bea H., 2006, Jpn. J. Appl. Phys., 45

10.1038/nmat1860

10.1038/nmat2189

10.1103/PhysRevB.10.154

T.Choi S.Lee Y.J.Choi V.Kiryukhin S.‐W.Cheong Sciencexpress DOI:10.1126/science.1168636(2009).

Thông tin
Thông tin xuất bản

Advanced Materials

Tập 21 Số 24

2463-2485

Thông tin tác giả