Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Đo nhiệt độ phát quang. Hai phương pháp xác định sai số quy trình
Tóm tắt
Hai phương pháp được đề xuất để xác định sai số quy trình ΔT dựa trên việc so sánh tỷ lệ và độ chênh lệch của các tín hiệu bức xạ thu được bởi cảm biến từ một tiêu chuẩn chính và một đối tượng. Các phương pháp này, lý thuyết và thực nghiệm, yêu cầu hiểu biết về tham số chuyển đổi của cảm biến. Cả hai phương pháp đều được chứng minh là chính xác và đưa ra kết quả giống nhau. Vonfram và bạch kim được sử dụng làm mẫu để thể hiện các quan hệ giữa các đại lượng chính xác định các phép đo nhiệt độ phát quang. Những mối quan hệ này cho phép lựa chọn các điều kiện tối ưu cho phép đo trong một khoảng nhiệt độ nhất định, tính đến các tham số của đối tượng và cảm biến.
Từ khóa
#đo nhiệt độ phát quang #sai số quy trình #cảm biến #tham số chuyển đổi #bức xạ #mẫu vonfram #mẫu bạch kimTài liệu tham khảo
K. N. Kasparov, Izmer. Tekh., No. 6, 34 (2004).
A. E. Sheindin (ed.), Emissive Properties of Solids. A Handbook [in Russian], Énergiya, Moscow (1974).
L. N. Aksyutov, Inzh. Fiz. Zh., 27, No. 2, 197 (1974).
Electronic Devices: Handbook. Vol. 14. Photoelectronic Devices [in Russian], Izd. VNII Élektrostandart, Leningrad (1972).
K. N. Kasparov and A. V. Belozerov, Izmer. Tekh., No. 12, 34 (2001).