Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Cấy ion nitơ vào kính arsenic kẽm tellurite
Tóm tắt
Chúng tôi đã cấy các mẫu kính xZnF2–(20-x)ZnO–40As2O3–40TeO2 (x = 4 và 20 mol%) bằng ion nitơ với các liều lượng khác nhau. Các mẫu kính được đặc trưng bằng phương pháp tán xạ Rutherford để phân tích độ sâu nồng độ của các nguyên tử đã được cấy, bằng phân tích SEM để khảo sát hình thái bề mặt, và cũng bằng phổ hấp thụ UV–vis. Quan sát cho thấy rằng trong cả hai hệ kính, giá trị độ sâu thâm nhập R, khoảng cách chiếu Rp, và độ phân tán ΔRp đều tăng khi liều cấy ion N+ tăng từ 5 × 10^16 đến 5 × 10^17 ion/cm2. Hình ảnh vi mô quét cho thấy sự thay đổi đáng kể trong hình thái bề mặt giữa các vùng chưa được cấy và vùng đã cấy nitơ. Sau khi cấy ion nitơ, độ truyền sáng giảm trong khi rìa hấp thụ dịch chuyển về phía bước sóng cao hơn cùng với sự gia tăng trong các liều cấy ion nitơ ở cả hai hệ kính. Sự giảm giá trị khoảng band quang học trong cả hai hệ kính có thể được quy cho hiệu ứng đuôi band do các sai lệch được tạo ra trong quá trình cấy nitơ.
Từ khóa
#cấy ion nitơ #kính arsenic kẽm tellurite #hấp thụ quang học #tán xạ Rutherford #phân tích SEMTài liệu tham khảo
Tagiara, N.S., Palles, D., Simandiras, E.D., Psycharis, V., Kyritsis, A., Kamitsos, E.I.: J. Non-Cryst. Solids. 457, 116–125 (2017). https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2016.11.033
Ahmmad, S.k., Samee, M.A., Edukondalu, A., Rahman, S.: Results in Physics. 2, 175–181 (2012). https://doi.org/10.1016/j.rinp.2012.10.002
Kut'in, А.M., Plekhovich, А.D., Balueva, К.V., Motorin, S.E., Dorofeev, V.V.: Thermochim Acta. 673, 192–197 (2019). https://doi.org/10.1016/j.tca.2019.01.027
Kalampounias, A.G., Papatheodorou, G.N., Yannopoulos, S.N.: J Phys Chem Solids. 67(725–731), 725–731 (2006). https://doi.org/10.1016/j.jpcs.2005.11.001
Desirena, H., Schülzgen, A., Sabet, S., Ramos-Ortiz, G., de la Rosa, E., Peyghambarian, N.: Opt Mater. 31, 784–789 (2009). https://doi.org/10.1016/j.optmat.2008.08.005
Stalin, S., Gaikwad, D.K., Samee, M.A., Edukondalu, A., Ahmmad, S.K., Joshi, A.A., Syed, R.: Ceram Int. 46, 17325–17334 (2020). https://doi.org/10.1016/j.ceramint.2020.04.021
Lakshminarayana, G., Yang, H., Qiu, J.: J Alloys Compd. 475, 569–576 (2009). https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2008.07.083
Yousef, E., Hotzel, M., Rüssel, C.: J. Non-Cryst. Solids. 353, 333–338 (2007)
Saddeek, Y.B.: Mater Chem Phys. 91, 146–153 (2005). https://doi.org/10.1016/j.matchemphys.2004.11.005
Takebe, H., Pujino, S., Morinaga, K.: J. Am. Ceram. Soc. 77, 2455–2457 (1994). https://doi.org/10.1111/j.1151-2916.1994.tb04621.x
El-Mallawany, R.: Mater Chem Phys. 53, 93–120 (1998). https://doi.org/10.1016/S0254-0584(97)02041-5
Ozdanova, J., Ticha, H., Tichy, L.: J. Non-Cryst. Solids. 353, 2799–2802 (2007). https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2007.06.017
Bale, S., Rahman, S., Awasthi, A.M., Sathe, V.: J. Alloys Compd. 460, 699–703 (2008). https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2007.06.090
Shaaban, M.H., Ali, A.A., El-Nimr, M.K.: Mater. Chem. Phys. 96, 433–438 (2006)
Surendra Babu, S., Jang, K., Jin Cho, E., Lee, H., Jayasankar, C.K.: J. Phys. D. Appl. Phys. 40, 5767 (2007). https://doi.org/10.1088/0022-3727/40/18/038
Sahar, M.R., Sulhadi, K., Rohani, M.S.: J. Non-Cryst. Solids. 354, 1179–1181 (2008). https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2006.12.127
Hayakawa, T., Hayakawa, M., Nogami, M., Thomas, P.: Opt. Mater. 32, 448–455 (2010). https://doi.org/10.1016/j.optmat.2009.10.006
Sidebottom, D.L., Hruschka, M.A., Porter, B.G., Brow, R.K., Hudgens, J.J.: Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 453, 253 (1997)
Raouf A. H. El-Mallawany, Tellurite Glasses Handbook: physical properties and Data, Second Edition CRC Press, Boca Raton (2002)
Wang, J.S., Vogel, E.M., Snitzer, E.: Opt. Mater. 3, 187–203 (1994). https://doi.org/10.1016/0925-3467(94)90004-3
Clare, A.G., Wright, A.C., Sinclair, R.N., Galeener, F.L., Geissberger, A.E.: J. Non-Cryst. Solids. 111, 123–138 (1989). https://doi.org/10.1016/0022-3093(89)90274-3
Nassau, K., Chadwick, D.L., Miller, A.E.: J. Non-Cryst. Solids. 93, 115–124 (1987). https://doi.org/10.1016/S0022-3093(87)80032-7
Nassau, K., Chadwick, D.L.: J. Am. Ceram. Soc. 66, 332 (1982). https://doi.org/10.1111/j.1151-2916.1983.tb10043.x
Townsend, P.D.: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res, Sect B. 65, 243–250 (1992). https://doi.org/10.1016/0168-583X(92)95042-P
Wasse, J.C., Petri, I., Salmon, P.S.: J. Phys. Condens. Matter. 13, 6165 (2001). https://doi.org/10.1088/0953-8984/13/28/302
Sheoran, A., Sanghi, S., Rani, S., Agarwal, A., Seth, V.P.: J. Alloys. Compd. 475, 804–809 (2009). https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2008.08.006
Hoppe, U., Yousef, E., Rüssel, C., Neuefeind, J., Hannon, A.C.: J. Phys. Condens. Matter. 16, 1645 (2004). https://doi.org/10.1088/0953-8984/16/9/013
Durga, D.K., Reddy, P.Y., Veeraiah, N.: J. Lumin. 99, 53–60 (2002). https://doi.org/10.1016/S0022-2313(02)00293-4
Durga, D.K., Veeraiah, N.: Phys. B. Condens. Matter. 324, 127–141 (2002). https://doi.org/10.1016/S0921-4526(02)01286-3
Krishna, S.B.M., Babu, A.R., Ch, R.S., Rao, D.K.: J. Non. Cryst. Solids. 356, 1754–1761 (2010). https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2010.07.026
Mazzoldi, P.: Ion beam modification of insulators, vol. 2, p. 765. Elsevier, Amsterdam (1987)
Kiani, F., Wen, C., Li, Y.: Acta Biomater. 103(1–23), (2020). https://doi.org/10.1016/j.actbio.2019.12.023
Ford, D.C., Hicks, D., Oses, C., Toher, C., Curtarolo, S.: Acta Mater. 176, 297–305 (2019). https://doi.org/10.1016/j.actamat.2019.07.008
Burnett, P.J., Page, T.F.: J. Mater. Sci. 19, 845–860 (1984). https://doi.org/10.1007/BF00540455
Mchargue, C.J., Yust, C.S.: J. Am. Ceram. Soc. 67, 117–123 (1983). https://doi.org/10.1111/j.1151-2916.1984.tb09627.x
Legg, K.O., Cochran Jr., J.K., Solnick-Legg, H.F., Mann, X.L.: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res, Sect B. 7–8, 535–540 (1985). https://doi.org/10.1016/0168-583X(85)90428-8
Hioki, T., Itoh, A., Noda, s., Doi, H., Kawamoto, J., Kamigaito, O.: J. Mater. Sci. Lett. 3, 1099–1101 (1984). https://doi.org/10.1007/BF00719777
McHargue, C.J., Farlow, G.C., White, C.W., Williams, J.M., Appleton, B.R., Naramoto, H.: Mater. Sci. Eng. 69, 123–127 (1985). https://doi.org/10.1016/0025-5416(85)90382-9
Hioki, T., Itoh, A., Ohkubo, M., Noda, S., Doi, H., Kawamoto, J., Kamigaito, O.: J. Mater. Sci. 21, 1321–1328 (1986). https://doi.org/10.1007/BF00553270
Füri, E., Deloule, E., Dalou, C.: Chem. Geol. 493, 327–337 (2018). https://doi.org/10.1016/j.chemgeo.2018.06.008
Kolavekar, S.B., Ayachit, N.H., Jagannath, G., Naga Krishnakanth, K., Venugopal Rao, S.: Opt. Mater. 83, 34–42 (2018). https://doi.org/10.1016/j.optmat.2018.05.083
Wei, T., Zhang, Y., Xu, A., Gregg, D.J., Karatchevtseva, I., Kong, L., Ionescu, M., Vance, E.R.: Appl. Surf. Sci. 478, 373–382 (2019). https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.01.178
Narayanan, K.L., Vijaya kumar, K.P., Nair, K.G.M., Thampi, N.S.: Phys. B. Condens. Matter. 240, 8–12 (1997). https://doi.org/10.1016/S0921-4526(97)00428-6
Senthil, K., Mangalaraj, D., Narayandass, S.K., Hong, B., Roh, Y., SeokPark, C., Yi, J.: Semicond Sci. Technol. 17, 97 (2002). https://doi.org/10.1088/0268-1242/17/2/302
Tesfamichael, T., Will, G., Colella, M., Bell, J.: Nucl Instrum Methods Phys Res, Sect B. 201(581–588), (2003). https://doi.org/10.1016/S0168-583X(02)02226-7