Modeling for thermal conductivity measurements of thin films using photothermal deflection with obliquely crossed configuration

Applied Physics B - Tập 65 - Trang 403-409 - 1997
B.-C. Li1, S.-Y. Zhang1
1Institute of Acoustics and Laboratory of Modern Acoustics, Nanjing University, Nanjing 210093, P R China (Fax: 86-25-3605557, E-mail: [email protected]), , CN

Thông tin
Thông tin xuất bản

Applied Physics B

Tập 65

403-409

Thông tin tác giả