Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Nguồn X-Ray Đặc Trưng Microfocus cho Hình Ảnh Độ Phân Giải Cao Dựa Trên Laser Sợi Femtosecond
Tóm tắt
Một nguồn X-ray microfocus dựa trên laser sợi được dop ytterbium có thời gian xung tối đa lên đến 20 µJ và tần số lặp lại hơn 100 kHz đã được thiết kế. Trong sơ đồ tập trung chặt chẽ vào bề mặt của đĩa đồng quay nhanh, việc sử dụng chế độ burst xung và tăng tần số lặp lại lên 170 kHz đã cung cấp một sản lượng photon đạt 108 photon/s trong 2π với độ sáng quang phổ là 1.5 × 1011 photon/(s mm2 mrad2) (0.1% BW). Kích thước của nguồn được thiết kế không vượt quá 5 µm.
Từ khóa
#X-ray #microfocus #femtosecond laser #ytterbium-doped #photon yield #spectral brightness #phase-contrast imagingTài liệu tham khảo
G. V. Fetisov, Phys. Uspekhi 63, 2 (2020).
M. Gambari, R. Clady, A. Stolidi, et al., Sci. Rep. 10, 6766 (2020). https://doi.org/10.1038/s41598-020-63614-3
K. Huang, M. H. Li, W. C. Yan, et al., Rev. Sci. Instrum. 85, 113304 (2014). https://doi.org/10.1063/1.4901519
K. A. Ivanov, I. M. Gavrilin, R. V. Volkov, et al., Laser Phys. Lett. 18, 075401 (2021). https://doi.org/10.1088/1612-202x/ac034a
L. Martin, J. Benlliure, D. Cortina-Gil, et al., Phys. Med. 82, 163 (2021). https://doi.org/10.1016/j.ejmp.2020.12.023
J. A. Chakera, A. Ali, Y. Y. Tsui, et al., Appl. Phys. Lett. 93, 261501 (2008). https://doi.org/10.1063/1.3046727
P. Gibbon and E. Forster, Plasma Phys. Control Fusion 769, 769 (1996). https://doi.org/10.1088/0741-3335/38/6/001
Yu. S. Krivonosov, V. E. Asadchikov, and A. V. Buzmakov, Crystallogr. Rep. 65 (4), 503 (2020). https://doi.org/10.1134/S1063774520040136
M. Stampanoni, A. Groso, A. Iseneggeret, et al., Develop. X-ray Tomogr. V. SPIE 6318, 193 (2006). https://doi.org/10.1117/12.679497
F. Wilde, M. Ogurreck, I. Greving, et al., AIP Conf. Proc. 1741, 030035 (2016). https://doi.org/10.1063/1.4952858
D. H. Larsson, U. Lundström, U. Westermarket, et al., Med. Phys. 40, 021909 (2013). https://doi.org/10.1118/1.4788661
D. H. Larsson, P. A. Takman, U. Lundström, et al., Rev. Sci. Instrum. 82, 123701 (2011). https://doi.org/10.1063/1.3664870
A. Zemaitis, P. Gecys, M. Barkauskas, et al., Sci. Rep. 9, 12280 (2019). https://doi.org/10.1038/s41598-019-48779-w
B. Neuenschwander, B. Jaeggi, D. J. Foerster, et al., J. Laser Appl. 31, 022203 (2019). https://doi.org/10.2351/1.5096083
D. J. Forster, S. Faas, S. Gröninger, et al., Appl. Surf. Sci. 440, 926 (2018). https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2018.01.297
J. Schille, S. Kraft, T. Pflug, et al., Mater. 14, 4537 (2021). https://doi.org/10.3390/ma14164537
A. A. Garmatina, A. G. Shubnyi, V. E. Asadchikov, et al., J. Phys. Conf. Ser. 2036, 012037 (2021). https://doi.org/10.1088/1742-6596/2036/1/012037
A. A. Garmatina, I. A. Zhvaniya, F. V. Potemkin, and V. M. Gordienko, Quantum Electron. 48, 648 (2018). https://doi.org/10.1070/QEL16674
A. A. Garmatina, B. G. Bravy, F. V. Potemkin, et al., J. Phys. Conf. Ser. 1692, 012004 (2020). https://doi.org/10.1088/1742-6596/1692/1/012004
A. A. Garmatina, M. M. Nazarov, P. A. Shcheglov, et al., Opt. Spektrosk. 130 (4), 522 (2022). https://doi.org/10.21883/OS.2022.04.52266.64-21
W. M. Wood, G. Focht, and M. C. Downer, Opt. Lett. 13, 984 (1988). https://doi.org/10.1364/ol.13.000984
I. V. Yakimchuk, I. V. Kozhevnikov, V. Yu. Politov, and V. E. Asadchikov, Crystallogr. Rep. 58 (2), 355 (2013). https://doi.org/10.1134/S1063774513020296