S. Wiedeman1, M. Bennett1, J. Newton1
1Solarex Corporation, Newtown, USA
Tóm tắt
Tóm tắtQuang phổ lệch do nhiệt (PDS) là một phương pháp nhạy cảm được sử dụng để đo sự hấp thụ quang yếu của bức xạ dưới ngưỡng băng. Một phương pháp sử dụng biến đổi Fourier được trình bày để loại bỏ các hiệu ứng can thiệp quang và tiếng ồn thường có trong dữ liệu PDS thu được từ a-Si:H, trong khi vẫn giữ nguyên các quang phổ PDS cơ bản không bị biến dạng. Phương pháp này giúp dễ dàng so sánh các quang phổ PDS đo trên các mẫu khác nhau và đơn giản hóa việc phân tích tiếp theo. Một số ví dụ sử dụng các mẫu a-Si được sản xuất dưới các điều kiện lắng đọng khác nhau được trình bày để chứng minh tính hữu ích của phương pháp.
